- СТРУКТУРНЫЙ ФАКТОР
- СТРУКТУРНЫЙ ФАКТОР
-
величина, характеризующая способность одной элем. ячейки кристалла когерентно рассеивать рентг. излучение, гамма-излучение, эл-ны, нейтроны в зависимости от внутр. строения ячейки (числа атомов в ней N, их координат xj, yj, zj, атомных факторов fj).С. ф. определяется как сумма ат. факторов fj с учётом имеющихся пространств. сдвигов фаз между волнами, рассеянными разл. атомами:F(h, k, l)SNj=1jexp 2p(hxj+kyj+lzj)(i=?-1; h, k, l —индексы Миллера, (см. ИНДЕКСЫ КРИСТАЛЛОГРАФИЧЕСКИЕ)). С. ф. связан с амплитудой рассеяния элем. ячейки кристалла. Интенсивность I(h,k,l) дифракц. максимума с индексами h, k, l пропорц. квадрату модуля соответствующего С. ф.: I(h,k,l)=|F(h,k,l) |2. Отсюда следует, что по экспериментально определяемым I(h,k,l) можно найти лишь модуль С. ф. |F(h,k,l)|, так что однозначно определить С. ф. по интенсивностям дифракц. максимумов нельзя.Связь С. ф. с индивидуальными рассеивающими св-вами каждой крист. структуры лежит в основе структурных исследований кристаллов. Так, в зависимости от симметрии расположения атомов в элем. крист. ячейке в тех или иных из разрешённых Брэгга — Вульфа условием направлениях рассеянные атомами волны могут взаимно погаситься, так что интенсивности I(h,k,l) соответствующих дифракц. максимумов обращаются в нуль. По тому, какие именно дифракц. максимумы исчезли, можно (хотя и не всегда однозначно) определить пространственную группу симметрии кристалла.Зная С. ф. для всех дифракц. отражений h, k, l, можно построить распределение электронной плотности (электростатич. потенциала или спиновой плотности) кристалла, что служит теор. основой структурного анализа кристаллов.
Физический энциклопедический словарь. — М.: Советская энциклопедия. Главный редактор А. М. Прохоров. 1983.
- СТРУКТУРНЫЙ ФАКТОР
-
(структурная амплитуда) - величина, характеризующая способность одной элементарной ячейки кристалла когерентно рассеивать рентг. излучение в зависимости от числа N атомов в ячейке, их координат xj, у j, zj и атомных факторов fj. С. ф. тесно связан с фурье-компонентами поляризуемости рентгеновской.
С. ф. Fhkl определяется как сумма атомных факторов fj с учётом имеющихся пространственных сдвигов фаз между волнами, рассеянными разными атомами ячейки:
(i=
, h, k, l -индексы Миллера; см. Индексы кристаллографические). С. ф. связан с амплитудой рассеяния элементарной ячейки кристалла. В кинематич. приближении теории дифракции рентгеновских лучей интенсивность дифракц. отражения с индексами h, k, l
В динамич. теории рассеяния характеристики дифракц. максимумов определяются величиной |Fhkl|. Отсюда следует, что по экспериментально определяемым Ihkl можно определить лишь модуль С. ф., для однозначного установления значения Fhkl необходимо, кроме того, решить т. н. фазовую проблему - найти фазы волн, рассеянных разными атомами ячейки. Эта задача решается методами рентгеновского структурного анализа.
С. ф. представляет собой фурье-образ распределения электронной плотности r(x, y, z) в элементарной ячейке кристалла:
где V эя- объём элементарной ячейки. Эта интегральная связь С. ф. с электронной плотностью лежит в основе методов рентг. структурного анализа. В зависимости от симметрии расположения атомов в элементарной кристал-лич. ячейке в направлениях, разрешённых Брэгга - Вульфа условием, рассеянные атомами волны могут взаимно погашаться, так что интенсивность нек-рых максимумов обращается в нуль. По тому, какие именно дифракц. максимумы исчезли на рентгенограмме, можно (хотя и не всегда однозначно) определить пространств. группу симметрии кристалла.
Аналогичным образом вводят С. ф. в теории дифракции электронов и нейтронов, однако в этих случаях вместо r( х, у, z )соответственно рассматривают распределение элек-тростатич. потенциала и ядерной плотности в элементарной кристаллич. ячейке.
Лит. см. при ст. Рентгеновский структурный анализ. Дифракция рентгеновских лучей, Электронография, Дифракция электронов, Нейтронография. А. В. Колпаков.
Физическая энциклопедия. В 5-ти томах. — М.: Советская энциклопедия. Главный редактор А. М. Прохоров. 1988.
.
