СТРУКТУРНЫЙ ФАКТОР

СТРУКТУРНЫЙ ФАКТОР
СТРУКТУРНЫЙ ФАКТОР

       
величина, характеризующая способность одной элем. ячейки кристалла когерентно рассеивать рентг. излучение, гамма-излучение, эл-ны, нейтроны в зависимости от внутр. строения ячейки (числа атомов в ней N, их координат xj, yj, zj, атомных факторов fj).
С. ф. определяется как сумма ат. факторов fj с учётом имеющихся пространств. сдвигов фаз между волнами, рассеянными разл. атомами:
F(h, k, l)SNj=1jexp 2p(hxj+kyj+lzj)
(i=?-1; h, k, l —индексы Миллера, (см. ИНДЕКСЫ КРИСТАЛЛОГРАФИЧЕСКИЕ)). С. ф. связан с амплитудой рассеяния элем. ячейки кристалла. Интенсивность I(h,k,l) дифракц. максимума с индексами h, k, l пропорц. квадрату модуля соответствующего С. ф.: I(h,k,l)=|F(h,k,l) |2. Отсюда следует, что по экспериментально определяемым I(h,k,l) можно найти лишь модуль С. ф. |F(h,k,l)|, так что однозначно определить С. ф. по интенсивностям дифракц. максимумов нельзя.
Связь С. ф. с индивидуальными рассеивающими св-вами каждой крист. структуры лежит в основе структурных исследований кристаллов. Так, в зависимости от симметрии расположения атомов в элем. крист. ячейке в тех или иных из разрешённых Брэгга — Вульфа условием направлениях рассеянные атомами волны могут взаимно погаситься, так что интенсивности I(h,k,l) соответствующих дифракц. максимумов обращаются в нуль. По тому, какие именно дифракц. максимумы исчезли, можно (хотя и не всегда однозначно) определить пространственную группу симметрии кристалла.
Зная С. ф. для всех дифракц. отражений h, k, l, можно построить распределение электронной плотности (электростатич. потенциала или спиновой плотности) кристалла, что служит теор. основой структурного анализа кристаллов.

Физический энциклопедический словарь. — М.: Советская энциклопедия. . 1983.

СТРУКТУРНЫЙ ФАКТОР

(структурная амплитуда) - величина, характеризующая способность одной элементарной ячейки кристалла когерентно рассеивать рентг. излучение в зависимости от числа N атомов в ячейке, их координат xj, у j, zj и атомных факторов fj. С. ф. тесно связан с фурье-компонентами поляризуемости рентгеновской.

С. ф. Fhkl определяется как сумма атомных факторов fj с учётом имеющихся пространственных сдвигов фаз между волнами, рассеянными разными атомами ячейки:

5001-28.jpg

(i=5001-29.jpg , h, k, l -индексы Миллера; см. Индексы кристаллографические). С. ф. связан с амплитудой рассеяния элементарной ячейки кристалла. В кинематич. приближении теории дифракции рентгеновских лучей интенсивность дифракц. отражения с индексами h, k, l

5001-30.jpg

В динамич. теории рассеяния характеристики дифракц. максимумов определяются величиной |Fhkl|. Отсюда следует, что по экспериментально определяемым Ihkl можно определить лишь модуль С. ф., для однозначного установления значения Fhkl необходимо, кроме того, решить т. н. фазовую проблему - найти фазы волн, рассеянных разными атомами ячейки. Эта задача решается методами рентгеновского структурного анализа.

С. ф. представляет собой фурье-образ распределения электронной плотности r(x, y, z) в элементарной ячейке кристалла:

5001-31.jpg

где V эя- объём элементарной ячейки. Эта интегральная связь С. ф. с электронной плотностью лежит в основе методов рентг. структурного анализа. В зависимости от симметрии расположения атомов в элементарной кристал-лич. ячейке в направлениях, разрешённых Брэгга - Вульфа условием, рассеянные атомами волны могут взаимно погашаться, так что интенсивность нек-рых максимумов обращается в нуль. По тому, какие именно дифракц. максимумы исчезли на рентгенограмме, можно (хотя и не всегда однозначно) определить пространств. группу симметрии кристалла.

Аналогичным образом вводят С. ф. в теории дифракции электронов и нейтронов, однако в этих случаях вместо r( х, у, z )соответственно рассматривают распределение элек-тростатич. потенциала и ядерной плотности в элементарной кристаллич. ячейке.

Лит. см. при ст. Рентгеновский структурный анализ. Дифракция рентгеновских лучей, Электронография, Дифракция электронов, Нейтронография. А. В. Колпаков.

Физическая энциклопедия. В 5-ти томах. — М.: Советская энциклопедия. . 1988.


.

Игры ⚽ Поможем сделать НИР

Полезное


Смотреть что такое "СТРУКТУРНЫЙ ФАКТОР" в других словарях:

  • структурный фактор — Debajaus ir Valerio faktorius statusas T sritis fizika atitikmenys: angl. Debye Waller factor vok. Debye Waller Faktor, m rus. структурный фактор, m; структурный фактор в рентгеноструктурном анализе, m pranc. facteur de Debye Waller, m …   Fizikos terminų žodynas

  • структурный фактор — Debajaus ir Valerio faktorius statusas T sritis Standartizacija ir metrologija apibrėžtis Skaičius, rodantis, kiek kartų dėl gardelės virpesių sumažėja difrakcijos linijų intensyvumas. atitikmenys: angl. Debye Waller factor vok. Debye Waller… …   Penkiakalbis aiškinamasis metrologijos terminų žodynas

  • структурный фактор — struktūrinis faktorius statusas T sritis Standartizacija ir metrologija apibrėžtis Dydis, apibūdinantis kristalo vieno elementariojo narvelio gebėjimą koherentiškai sklaidyti rentgeno ir gama spinduliuotę, elektronus, neutronus; jo vertė… …   Penkiakalbis aiškinamasis metrologijos terminų žodynas

  • структурный фактор — sandaros faktorius statusas T sritis fizika atitikmenys: angl. structure factor vok. Strukturfaktor, m rus. структурный фактор, m pranc. facteur de structure, m; facteur structural, m …   Fizikos terminų žodynas

  • структурный фактор в рентгеноструктурном анализе — Debajaus ir Valerio faktorius statusas T sritis fizika atitikmenys: angl. Debye Waller factor vok. Debye Waller Faktor, m rus. структурный фактор, m; структурный фактор в рентгеноструктурном анализе, m pranc. facteur de Debye Waller, m …   Fizikos terminų žodynas

  • электронный структурный фактор — elektroninis sandaros faktorius statusas T sritis fizika atitikmenys: angl. electron structure factor vok. elektronischer Strukturfaktor, m rus. электронный структурный фактор, m pranc. facteur de structure électronique, m …   Fizikos terminų žodynas

  • Структурный функционализм — Структурный функционализм  методологический подход в социологии и социокультурной антропологии, состоящий в трактовке общества как социальной системы, имеющей свою структуру и механизмы взаимодействия структурных элементов, каждый из которых …   Википедия

  • СТРУКТУРНЫЙ АНАЛИЗ — определение строения в в и материалов, т. е. выяснение расположения в пространстве составляющих их структурных единиц (молекул, ионов, атомов). В узком смысле С. а. определение геометрии молекул и мол. систем, к рую обычно описывают набором длин… …   Химическая энциклопедия

  • R-фактор — (называемый иногда остаточным (англ. residual) или фактором достоверности(англ. reliability))  в кристаллографии мера согласованности между кристаллографической моделью и экспериментальным массивом рентгеновских данных[1]. Иными… …   Википедия

  • РЕНТГЕНОВСКИЙ СТРУКТУРНЫЙ АНАЛИЗ — методы исследования структуры в ва по распределению в пр ве и интенсивностям рассеянного на анализируемом объекте рентгеновского излучения. Р. с. а. наряду с нейтронографией и электронографией явл. дифракц. структурным методом; в его основе лежит …   Физическая энциклопедия


Поделиться ссылкой на выделенное

Прямая ссылка:
Нажмите правой клавишей мыши и выберите «Копировать ссылку»