сканирующий пучок
1сканирующий пучок — сканирующий луч развертки — [Л.Г.Суменко. Англо русский словарь по информационным технологиям. М.: ГП ЦНИИС, 2003.] Тематики информационные технологии в целом Синонимы сканирующий луч развертки EN scanning beam …
2Сканирующий гелиевый ионный микроскоп — Сканирующий ионный гелиевый микроскоп (СИГМ)  сканирующий (растровый) микроскоп, по принципу работы аналогичный сканирующему электронному микроскопу, но использующий вместо электронов пучок ионов гелия. Содержание 1 Источник ионов 2 Оптика …
3сканирующий электронный микроскоп — Scanning Electron Microscope (SEM) Сканирующий электронный микроскоп (СЭМ) Прибор, позволяющий получать изображения поверхности образца с большим разрешением (менее микрометра). Исследуемый образец в условиях вакуума сканируется… …
4Сфокусированный ионный пучок — Сфокусированный (фокусированный) ионный пучок (СИП или ФИП) (англ. Focused ion beam (FIB))  широко используемая методика в материаловедении для локального анализа, н …
5ГОСТ 16865-79: Аппаратура для рентгеноструктурного и рентгеноспектрального анализов. Термины и определения — Терминология ГОСТ 16865 79: Аппаратура для рентгеноструктурного и рентгеноспектрального анализов. Термины и определения оригинал документа: 6. Абсорбционный рентгеновский спектрометр Определения термина из разных документов: Абсорбционный… …
Словарь-справочник терминов нормативно-технической документации
7Tescan — Tescan, a.s. Год основания 1991 Расположение …
8ЭЛЕКТРОННЫЙ МИКРОСКОП — прибор, который позволяет получать сильно увеличенное изображение объектов, используя для их освещения электроны. Электронный микроскоп (ЭМ) дает возможность видеть детали, слишком мелкие, чтобы их мог разрешить световой (оптический) микроскоп.… …
9Электронный микроскоп — (ЭМ)  прибор, позволяющий получать изображение объектов с максимальным увеличением до 106 раз, благодаря использованию, в отличие от оптического микроскопа, вместо светового потока пучка электронов с энер …
10Спектральные приборы — приборы для исследования спектрального состава по длинам волн электромагнитных излучений в оптическом диапазоне (10 3 103 мкм; см. Спектры оптические), нахождения спектральных характеристик излучателей и объектов, взаимодействовавших с… …
