- полевая ионная микроскопия
-
- Термин
- полевая ионная микроскопия
- Термин на английском
- field ion microscope
- Синонимы
- Аббревиатуры
- ПИМ, FIM
- Связанные термины
- микроскопия
- Определение
- микроскопия поверхности образца, имеющего форму острой иглы, основанная на использовании эффекта полевой десорбции атомов "изображающего" газа, адсорбирующихся на исследуемую поверхность.
- Описание
Полевая ионная микроскопия была изобретена Э.Мюллером в 1951 г. Установка для полевой ионной микроскопии схематически показана на рис.1а. Основными ее элементами служат образец в виде острой иглы, находящийся под высоким положительным потенциалом (1 – 10 кэВ), и флюоресцентный экран, в современных установках замененный на микроканальную пластину, которые помещаются в откачиваемую камеру. Камера заполнена «изображающим» газом, обычно гелием или неоном при давлении от 10-5 до 10-3 Торр. Образец охлаждается до низких температур (~20 – 80 К).
Принцип формирования изображения проиллюстрирован на рис. 1б. Изображающий газ вблизи иглы поляризуется в поле, а поскольку поле неоднородно, то поляризованные атомы газа притягиваются к поверхности иглы. Адсорбированные атомы могут ионизироваться за счет туннелирования электронов в иглу, и образовавшиеся ионы ускоряются полем в сторону экрана, где и формируется изображение поверхности-эмиттера. Разрешение полевого микроскопа определяется термической скоростью изображающего иона и при охлаждении иглы до низких температур может составлять до 0,1 нм, т.е. иметь атомное разрешение (рис. 2).
Ограничения на материал иглы те же, что и для полевого эмиссионного микроскопа; вследствие этого большинство исследований с помощью полевого ионного микроскопа связано с тугоплавкими металлами (W, Mo, Pt, Ir). Наиболее яркие результаты, полученные с помощью полевой ионной микроскопии, относятся к исследованию динамического поведения поверхностей и поведения атомов на поверхности. Предметом изучения служат явления адсорбции и десорбции, поверхностная диффузия атомов и кластеров, движение атомных ступеней, равновесная форма кристалла и т. д.
- Авторы
- Зотов Андрей Вадимович, д.ф.-м.н.
- Саранин Александр Александрович, д.ф.-м.н.
- Ссылки
- Введение в физику поверхности: Пер. с англ. / Оура Кендзиро, Лифшиц В.Г., Саранин А.А., Зотов А.В., Катаяма М. - М. Наука, 2006. - 490 с.
- Иллюстрации
- Теги
- Разделы
- Зондовые методы микроскопии и спектроскопии: атомно-силовая, сканирующая туннельная, магнитно-силовая и др.
(Источник: «Словарь основных нанотехнологических терминов РОСНАНО») - Термин
Энциклопедический словарь нанотехнологий. — Роснано. 2010.