- electromigration failure
- электромиграционный отказ
Большой англо-русский и русско-английский словарь. 2001.
electromigration failure
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Electromigration — is the transport of material caused by the gradual movement of the ions in a conductor due to the momentum transfer between conducting electrons and diffusing metal atoms. The effect is important in applications where high direct current… … Wikipedia
Électromigration — Basiquement, on peut définir l électromigration comme le déplacement d’atomes dans un conducteur induit par un flux d’électron. Ce mécanisme n’apparait que dans les applications où l’on observe de très forte densité de courant comme en… … Wikipédia en Français
Computer security compromised by hardware failure — is a branch of computer security applied to hardware. The objective of computer security includes protection of information and property from theft, corruption, or natural disaster, while allowing the information and property to remain accessible … Wikipedia
Elektronenmigration — Unter Elektromigration (EM) versteht man einen Materialtransport durch allmähliche Bewegung von Ionen in einem festen Leiter, der durch den elektrischen Strom verursacht wird. Kollisionen von Elektronen mit den Ionen und in geringerem Maß auch… … Deutsch Wikipedia
Elektromigration — Unter Elektromigration (EM) versteht man einen Materialtransport durch allmähliche Bewegung von Ionen in einem festen Leiter, der durch den elektrischen Strom verursacht wird. Kollisionen von Elektronen mit den Ionen und in geringerem Maß auch… … Deutsch Wikipedia
Электромиграция — (ЭМ; англ. electromigration, EM) явление переноса вещества в проводнике за счет постепенного дрейфа ионов, возникающее благодаря обмену количеством движения при столкновениях между проводящими носителями и атомной решеткой. Этот эффект … Википедия
Black'sche Gleichung — Die Blacksche Gleichung gibt die mittlere Ausfallzeit (MTTF: mean time to failure) einer Leiterbahn aufgrund von Schädigungen durch Elektromigration in Abhängigkeit von der Temperatur und der Stromdichte an. Mit ihr lassen sich Lebensdauern von… … Deutsch Wikipedia
Blacksche Gleichung — Die Blacksche Gleichung gibt die mittlere Ausfallzeit (MTTF: mean time to failure) einer Leiterbahn aufgrund von Schädigungen durch Elektromigration in Abhängigkeit von der Temperatur und der Stromdichte an. Mit ihr lassen sich Lebensdauern von… … Deutsch Wikipedia
Black's equation — is a mathematical model for the mean time to failure (MTTF) of a semiconductor circuit due to electromigration: a phenomenon of molecular rearrangement (movement) in the solid phase caused by an electromagnetic field.MTTF = Awj^{ n}… … Wikipedia
Flux (metallurgy) — Rosin used as flux for soldering A flux pen used f … Wikipedia
Équation de Black — L Équation de Black est un modèle mathémathique estimant le temps moyen jusqu à la défaillance (MTTF : mean time to failure en anglais) d un circuit microélectronique provoquée par le phénomène d électromigration. L équation tient son nom de … Wikipédia en Français
