РЕНТГЕНОВСКИЙ ДИФРАКТОМЕТР

РЕНТГЕНОВСКИЙ ДИФРАКТОМЕТР

       

прибор для измерения интенсивности и направления рентг. пучков, дифрагированных на крист. объекте (см. ДИФРАКЦИЯ РЕНТГЕНОВСКИХ ЛУЧЕЙ), Р. д. применяется для решения разл. задач рентгеновского структурного анализа, рентгенографии материалов. Он позволяет измерять интенсивность дифрагированного в заданном направлении излучения с точностью до десятых долей % и угол дифракции с точностью до десятых долей мин.

Р. д. состоит из источника рентгеновского излучения, рентгеновского гониометра, в к-рый помещают исследуемый образец, детектора излучения и электронного измерительно-регистрирующего устройства. Детектором в Р. д. служат не фотоматериалы, как в рентгеновской камере, а сцинтилляционные, пропорциональные и ПП счётчики. В процессе измерения счётчик перемещается и регистрирует в каждой точке энергию излучения за определённый интервал времени. Используются также одномерные и двумерные позиционно-чувствительные детекторы, фиксирующие одновременно интенсивность и координаты неск. отражений. По сравнению с рентг. камерами Р. д. обладают более высокой точностью, чувствительностью, большей экспрессностью. Процесс получения информации в Р. д. может быть полностью автоматизирован, поскольку в нём отсутствует необходимость проявления фотоплёнки, причём в автоматич. Р. д. ЭВМ управляют прибором и обрабатывают полученные данные. Универс. Р. д. можно использовать для разл. рентгеноструктурных исследований, заменяя приставки к гониометрич. устройству. В больших лабораториях применяются специализир. Р. д., предназначенные для решения к.-л. одной задачи.

Физический энциклопедический словарь. — М.: Советская энциклопедия. Главный редактор А. М. Прохоров. 1983.

РЕНТГЕНОВСКИЙ ДИФРАКТОМЕТР

- прибор для измерения интенсивностии направления рентг. пучков, дифрагированных на исследуемом образце (см.Дифракция рентгеновских лучей). Р. д. применяется для решения разл. <задач рентгеновского структурного анализа, рентгенографии материалов, исследования реальной структуры монокристаллов. Он позволяет измерятьинтенсивность дифрагированного в заданном направлении излучения с точностьюдо десятых долей % и угол дифракции с точностью от неск. минут до долейсекунды.

Р. д. состоит из источника рентг. излучения, рентг. гониометра, в к-рыйпомещают исследуемый образец, детектора излучения, электронного измерительно-регистрирующегоустройства, управляющей ЭВМ. В Р. д. в отличие от камер для регистрацииизлучения не используют фотоматериалы или люминесцирующие пластины, а применяютсцинтилляционные, пропорциональные, полупроводниковые детекторы (см. Детекторычастиц, Ионизирующее излучение). В процессе измерения счётчик перемещаетсяв гониометре и регистрирует в каждой точке число фотонов дифрагиров. излученияза определ. интервал времени. Используются также одномерные и двумерныепозиционно-чувствит. счётчики указанных выше типов, фиксирующие одновременнои факт попадания фотона в детектор и его пространственные координаты вдетекторе. Одномерными и двумерными детекторами можно параллельно измерятьдифракц. картину во мн. точках и тем самым ускорять регистрацию одновременновозникающей одномерной или двумерной картины и упростить устройство гониометров. <Напр., Р. д. для поликристаллич. образцов с одномерным детектором или Р. <д. для макромолекулярных кристаллов с двумерным детектором позволяют надва порядка сократить время измерения при соответствующем сокращении дозыоблучения образца.

Р. д. обладают более высокими по сравнению с рентг. фотогр. камерамиточностью, чувствительностью, экспрессностью, большим динамич. диапазоном. <Процесс получения информации в Р. д. может быть полностью автоматизирован, <а обработка может производиться очень быстро, поскольку в них отсутствуетнеобходимость проявления фотоплёнки или считывания с пластин фотолюминесценции(рентг. фотогр. камера с регистрацией на пластину с фотостимулированнойлюминесценцией, оборудованная считывающим устройством, управляемым ЭВМ, <по степени автоматизации эквивалентна Р. д.). Универсальные Р. д. для поликристаллич. <материалов могут быть использованы для разл. рентгеноструктурных исследований:фазового количеств. и качеств. анализа, текстурных исследований, изученияфазовых превращений, ориентирования монокристаллов, исследований малоугловогорассеяния и т. д., путём замены приставок к гониометрич. устройству. <Так, существуют приставки для крупнокристаллич. образцов, исследованийтекстуры, низкотемпературных (до темп-р жидкого азота и гелия) и высокотемпературных(до темп-р ок. 3000 °К) исследований, приставки для ориентирования монокристаллови т. д. Управляющая ЭВМ и соответствующие программы позволяют автоматическиполучать дифракц. картину и рассчитывать конечные результаты даже в универсальномР. д. В больших лабораториях применяются более производительные и точныеспециализиров. Р. д., предназначенные для решения к.-л. одной задачи. Источникомизлучения в Р. д. может быть отпаянная рентг. трубка с точечной или линейнойпроекцией фокуса с использованием в качестве коллиматоров соответственнокруглых или щелевых диафрагм. Для повышения яркости источника и сокращениявремени эксперимента на порядок применяют непрерывно откачиваемые рентг. <трубки с вращающимся анодом. На два и более порядка можно ускорить дифракц. <эксперимент в Р. д., если использовать в качестве рентг. источника синхротронноеизлучение.

Лит. см. при ст. Рентгеновский гониометр. Д. М. Хейкер.

Физическая энциклопедия. В 5-ти томах. — М.: Советская энциклопедия. Главный редактор А. М. Прохоров. 1988.