РЕНТГЕНОВСКИЙ ГОНИОМЕТР

РЕНТГЕНОВСКИЙ ГОНИОМЕТР

       

прибор, с помощью к-рого можно одновременно регистрировать направление дифрагированного на исследуемом образце рентгеновского излучения и положение образца в момент возникновения дифракции. Р. г. может быть самостоят. прибором, регистрирующим на фотоплёнке дифракц. картину; в этом случае он представляет собой рентгеновскую камеру. Р. г. называют также все гониометрич. устройства, являющиеся составной частью рентгеновских дифрактометров и служащие для установки образца в положения, соответствующие условиям возникновения дифракции рентгеновских лучей, и детектора в направлении дифрагир. лучей.

В Р. г. с фоторегистрацией для исследования монокристаллов или текстур выделяют дифракц. конус, соответствующий исследуемой кристаллографич. плоскости. Фотоплёнка и образец движутся синхронно, поэтому одна из координат на плёнке соответствует азимутальному углу дифрагир. луча, вторая — углу поворота образца (так работает Р. г. Вайсенберга (рис. 1) и текстурный Р. г. Жданова). В Р. г. для дифрактометров может быть использована аналогичная схема, однако угол поворота образца и углы поворота и наклона детектора в этом случае отсчитываются непосредственно по лимбам или датчикам, установленным на соответствующих валах.

Рис. 1. Схема рентг. гониометра типа Вайсенберга. Зубчатые передачи и ходовой винт обеспечивают синхронное движение исследуемого образца (О) и цилиндрич. кассеты (К) с рентг. плёнкой.

Рис. 2. Схема экваториального четырёхкружного гониометра для исследования монокристаллов. Лимб 1 измеряет Ф2— угол поворота кристалла вокруг оси гониометрич. головки; лимб 2 регистрирует c — угол наклона оси Ф; лимб 3 измеряет w — угол вращения относительно гл. оси гониометра; лимб 4 измеряет угол поворота счётчика 2 q.

В рентг. дифрактометрах для исследования монокристаллов и текстур применяется т. н. экваториальная геометрия: счётчик перемещается только в одной плоскости, а образец нужно поворачивать вокруг трёх взаимно перпендикулярных осей (рис. 2) т. о., чтобы дифрагир. пучок попал в плоскость движения счётчика. В Р. г. для исследования поликристаллич. образцов используют слегка расходящийся пучок, к-рый после дифракции на объекте сходится в одну точку.

Физический энциклопедический словарь. — М.: Советская энциклопедия. Главный редактор А. М. Прохоров. 1983.

РЕНТГЕНОВСКИЙ ГОНИОМЕТР

- прибор для одноврем. регистрированиянаправления дифрагированного на исследуемом образце рентг. излучения иположения образца в момент возникновения дифракции. Р. г. может быть самостоят. <прибором, регистрирующим на фотоплёнке или пластине с фотостимулиров. люминесценциейдифракц. картину; в этом случае он представляет собой рентгеновскуюкамеру. Р. г. называют также все гониометрич. устройства, являющиесясоставной частью рентгеновских дифрактометров и служащие для установленияобразца в положение, соответствующее условиям возникновения дифракциирентгеновских лучей, и детектора - в направлении дифрагиров. лучей.

В Р. г. с фоторегистрацией или с люминесцирующими пластинами для исследованиямонокристаллов или текстур выделяют дифракц. конус, соответствующий привращении образца исследуемой кристаллографич. плоскости в обратном пространстве. <Фотоплёнка и образец движутся синхронно, поэтому одна из координат на плёнкесоответствует азимутальному углу дифрагиров. луча, вторая - углу поворотаобразца [так работают Р. г. Вайсенберга (рис. 1) и текстурный Р. г. Жданова].В Р. г. дифрактометров для монокристаллов может быть использована аналогичнаягеом. схема, однако угол поворота образца и углы поворота и наклона счётчикав этом случае отсчитываются непосредственно по угл. датчикам, установленнымна соответствующих валах. В случае использования двумерных позиционно-чувствит. <детекторов в гониометре отсчитывается только угол поворота образца, а углыповорота и наклона дифрагиров. пучка пересчитываются из координат дифракц. <пятна в детекторе. В рентг. дифрактометрах для исследования монокристаллови текстур с точечным счётчиком широко применяется т. н. экваториальнаягеометрия: счётчик перемещается только в одной экваториальной плоскости, <а образец поворачивается вокруг трёх эйлеровых осей таким образом, чтобынормаль к заданной кристаллографич. плоскости в отражающем положении располагаласьв экваториальной плоскости (рис. 2).

Рис. 1. Схема рентгеновского гониометра типа Вайсенберга. Зубчатыепередачи и ходовой винт обеспечивают синхронное движение исследуемого образца(О) и цилиндрической кассеты (К) с рентгеновской плёнкой.

Рис. 2. Схема экваториального четырёхкружного гониометра для исследованиямонокристаллов. Лимб 1 измеряет Ф - угол поворота кристалла вокруг осигониометрической головки; лимб 2 регистрирует c - угол наклона оси Ф; лимб3 измеряет w - угол вращения кристалла относительно главной оси гониометра;лимб 4 измеряет угол поворота счётчика

В Р. г. для исследования монокристаллов на образец направляется пучокс сечением мм, сформированный коллиматором, состоящим из двух круглых диафрагм илидвух фокусирующих зеркал полного внеш. отражения (см. Рентгеновскаяоптика). Чаще всего излучение монохроматизируется с помощью монохроматораиз пиролитич. графита.

В Р. г. для исследования поликристаллич. образцов для повышения интенсивностидифракц. излучения используют первичные пучки с расходимостью в неск. градусов. <Для получения высокого (в сотые и тысячные доли градуса) угл. разрешенияприменяются фокусирующие схемы Брэгга - Брентано, Зеемана - Болина илиГинье. Эти Р. г. являются двуосными, с двумя коаксиальными осями. Для формированияпучков в них используются щели, монохроматизация пучков осуществляетсяс помощью фокусирующих монохроматоров из монокристаллов или пиролитич. <графита на первичном и дифрагиров. пучках, а также селективных фильтров.

В одноосных малоугловых Р. г. основой является щелевой коллиматор, обеспечивающиймин. расходимость первичного пучка. Особенность Р. г. для исследованияповерхностных слоев монокристаллов методом рентгеновских стоячих волн- наличие встроенного пропорц. счётчика электронов, анализирующегоэлектроны, выходящие из образца при дифракции рентг. лучей.

Лит.: Уманский М. М., Аппаратура рентгеноструктурных исследований, <М., 1960; X е й к е р Д. М., Рентгеновская дифрактометрия монокристаллов, <Л., 1973; Современная кристаллография, т. 1, М., 1979. Д. М. Хейкер.

Физическая энциклопедия. В 5-ти томах. — М.: Советская энциклопедия. Главный редактор А. М. Прохоров. 1988.