tof sims
1TOF SIMS — TOF SIMS (Time of Flight Secondary Ion Mass Spectrometry) Масс спектрометрия вторичных ионов с время пролётной масс сепарацией Метод локального анализа, основанный на регистрации спектра масс ионов, возникающих в результате ионного травления …
2SIMS — Spectrométrie de masse à ionisation secondaire SIMS (Spectrométrie de masse à ionisation secondaire) Le procédé d analyse de surface connu sous le nom de SIMS, d après l acronyme anglais signifiant Secondary Ion Mass Spectrometry consiste à… …
3GCxGC-TOF-MS — Die Massenspektrometrie ist ein Verfahren zum Messen des Masse zu Ladung Verhältnisses m/q von Teilchen. Dazu wird die zu untersuchende Substanz in die Gasphase überführt, ionisiert und die ionisierten Teilchen durch ein elektrisches Feld… …
4Static secondary ion mass spectrometry — Static secondary ion mass spectrometry, or static SIMS is a technique for chemical analysis including elemental composition and chemical structure of the uppermost atomic or molecular layer of a solid which may be a metal, semiconductor or… …
5Spectromètre de masse à temps de vol — Figure tirée du brevet de William E. Stephens, 1952[1]. La Spectrométrie à temps de vol (TOF MS, selon l acronyme anglais Time of Flight Mass Spectrometry) est une méthode de spectrométrie de masse dans laquelle les ions sont accélérés par un …
6Spectromètres de masse à temps de vol — Spectromètre de masse à temps de vol Figure tirée du brevet de William E. Stephens, 1952.[1] La Spectrométrie à temps de vol (TOF MS, selon l acronyme anglais Time of Flight Mass Spectrometry ) est une méthode de Spectrométrie de masse dans… …
7Low-energy ion scattering — LEIS redirects here; for the Hawaiian garland see Lei (Hawaii). Low energy ion scattering spectroscopy (LEIS), sometimes referred to simply as ion scattering spectroscopy (ISS), is a surface sensitive analytical technique used to characterize the …
8Secondary ion mass spectrometry — Infobox chemical analysis name = Secondary ion mass spectrometry caption =CAMECA IMS3f Magnetic SIMS Instrument acronym = SIMS classification =Mass spectrometry analytes = Solid surfaces, thin films related = Fast atom bombardment… …
9Chemical state — Contents 1 Overview 2 Measurement and Interpretation 3 Significance 4 Closely related nomenclature …
10масс-спектрометрия вторичных ионов — Термин масс спектрометрия вторичных ионов Термин на английском secondary ionization mass spectrometry Синонимы Аббревиатуры МСВИ, ВИМС, SIMS Связанные термины масс спектрометр, протеомика Определение Деструктивный метод химического анализа… …
