probe materials
1Probe — Probe, aus einem stückigen, körnigen oder pulverigen Material entnommene kleine Quantität, welche die durchschnittliche Beschaffenheit des gesamten Materials besitzt. Läßt man Proben an verschiedenen Stellen des Materials mit der Hand entnehmen… …
2Materials MASINT — Intelligence Cycle Management Collection Management MASINT Electro optical MASINT Nuclear MASINT Geophysical MASINT Radar MASINT Materials MASINT Radiofrequency MASINT Materials MASINT is one of the six major disciplines generally accepted to… …
3Probe — Untersuchung; Erprobung; Prüfung; Test; Versuch; Warenmuster; Muster * * * Pro|be [ pro:bə], die; , n: 1. einer Aufführung beim Theater, den Aufnahmen beim Film usw. vorangehende vorbereitende Arbeit (besonders der Künstlerinnen und Künstler):… …
4Probe card — A probe card is an interface between an electronic test system and a semiconductor wafer. Its purpose is to provide an electrical path between the test system and the circuits on the wafer, thereby permitting the testing and validation of the… …
5Probe — Eine Probe (von spätmittelhochdeutsch: prōbe, mittellateinisch: proba = „Prüfung“, „Untersuchung“, aus mittelhochdeutsch: probieren, probare = „probieren“; „beurteilen“; „billigen“) bezeichnet: allgemein eine Leistungsbeurteilung, siehe …
6Materials Science Laboratory — MSRR 1 (NASA) The Materials Science Laboratory (MSL) of the European Space Agency is a payload on board the International Space Station for materials science experiments in low gravity. It is installed in NASA s first Materials Science Research… …
7Probe — die Probe, n (Grundstufe) ein Versuch, bei dem etw. geprüft wird Synonyme: Test, Prüfung Beispiel: Ihre Freundschaft wurde auf eine harte Probe gestellt. Kollokation: jmdn. einer Probe unterziehen die Probe, n (Aufbaustufe) kleine Menge eines zu… …
8Mercury probe — The Mercury Probe is an electrical probing device to make rapid, non destructive contact to a sample for electrical characterization. Its primary application is semiconductor measurements where time consuming metallizations or photolithographic… …
9Atom probe — The atom probe is an atomic resolution microscope used in materials science that was invented in 1967 by Erwin Müller, J. A. Panitz, and S. Brooks McLane [cite journal|last=Müller|first=Erwin W.|authorlink=Erwin Müller|coauthors=John A. Panitz, S …
10List of materials analysis methods — List of materials analysis methods: Contents: Top · 0–9 · A B C D E F G H I J K L M N O P Q R S T U V W X Y Z μSR see Muon spin spectroscopy …
