massenanalysator
1Massenanalysator — Die Massenspektrometrie ist ein Verfahren zum Messen des Masse zu Ladung Verhältnisses m/q von Teilchen. Dazu wird die zu untersuchende Substanz in die Gasphase überführt, ionisiert und die ionisierten Teilchen durch ein elektrisches Feld… …
2NExT — Missionsverlauf Start 7. 2. 1999 Kurskorrektur DSM 1 18. 1. – 22. 1. 2000 Größte Entfernung von der Sonne 10. 2. 2000 1. Staubsammelphase 22. 2. – 1. 5. 2000 Standbym …
3New Exploration of Tempel 1 — Missionsverlauf Start 7. 2. 1999 Kurskorrektur DSM 1 18. 1. – 22. 1. 2000 Größte Entfernung von der Sonne 10. 2. 2000 1. Staubsammelphase 22. 2. – 1. 5. 2000 Standbym …
4Ponderomotorische Kräfte — Die ponderomotorische Kraft (englisch: ponderomotive force, deshalb manchmal auch ponderomotive Kraft genannt) ist der niederfrequente Anteil der Kraft eines räumlich inhomogenen, hochfrequenten elektromagnetischen Feldes auf ein System von (sich …
5SIMS — Sekundärionen Massenspektrometrie (SIMS) ist eine Methode der Oberflächenphysik/Oberflächenchemie und gehört wie Sekundär Neutralteilchen Massen Spektrometrie (SNMS), Rutherford Backscattering (RBS) und Low Energy Ion Scattering (LEIS) zu den… …
6Sekundär-Ionen-Massen-Spektrometrie — Sekundärionen Massenspektrometrie (SIMS) ist eine Methode der Oberflächenphysik/Oberflächenchemie und gehört wie Sekundär Neutralteilchen Massen Spektrometrie (SNMS), Rutherford Backscattering (RBS) und Low Energy Ion Scattering (LEIS) zu den… …
7Sekundärionen-Massenspektrometrie — (SIMS) ist eine Methode der Oberflächenphysik/Oberflächenchemie und gehört wie Sekundär Neutralteilchen Massen Spektrometrie (SNMS), Rutherford Backscattering Spectrometry (RBS) und niederenergetische Ionenstreuspektroskopie (LEIS) zu den… …
8Sekundärionen-Massenspektroskopie — Sekundärionen Massenspektrometrie (SIMS) ist eine Methode der Oberflächenphysik/Oberflächenchemie und gehört wie Sekundär Neutralteilchen Massen Spektrometrie (SNMS), Rutherford Backscattering (RBS) und Low Energy Ion Scattering (LEIS) zu den… …
9Sekundärionenmassenspektrometer — Sekundärionen Massenspektrometrie (SIMS) ist eine Methode der Oberflächenphysik/Oberflächenchemie und gehört wie Sekundär Neutralteilchen Massen Spektrometrie (SNMS), Rutherford Backscattering (RBS) und Low Energy Ion Scattering (LEIS) zu den… …
10Sekundärionenmassenspektrometrie — Sekundärionen Massenspektrometrie (SIMS) ist eine Methode der Oberflächenphysik/Oberflächenchemie und gehört wie Sekundär Neutralteilchen Massen Spektrometrie (SNMS), Rutherford Backscattering (RBS) und Low Energy Ion Scattering (LEIS) zu den… …
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