logic circuit tester

  • 1logic integrated-circuit tester — loginių grandynų bandiklis statusas T sritis radioelektronika atitikmenys: angl. logic integrated circuit tester vok. Logiktester, m rus. испытательный прибор для логических схем, m; тестер для логических схем, m pranc. testeur des circuits… …

    Radioelektronikos terminų žodynas

  • 2Logic probe — A logic probe is a hand held pen like test probe used for analyzing and troubleshooting the logical states (Boolean 0 or 1) of a digital circuit. While most are powered by the circuit under test, some devices use batteries. They can be used on… …

    Wikipedia

  • 3In-circuit functional tester — Clip On Test Versus Whole Board Functional TestIn circuit functional testing (or clip on testing as it is popularly called) is best described as testing the functionality of each component on the board using test clips. Here, the inference is… …

    Wikipedia

  • 4Glitch — For other uses, see Glitch (disambiguation). A glitch is a short lived fault in a system. It is often used to describe a transient fault that corrects itself, and is therefore difficult to troubleshoot. The term is particularly common in the… …

    Wikipedia

  • 5Logiktester — loginių grandynų bandiklis statusas T sritis radioelektronika atitikmenys: angl. logic integrated circuit tester vok. Logiktester, m rus. испытательный прибор для логических схем, m; тестер для логических схем, m pranc. testeur des circuits… …

    Radioelektronikos terminų žodynas

  • 6loginių grandynų bandiklis — statusas T sritis radioelektronika atitikmenys: angl. logic integrated circuit tester vok. Logiktester, m rus. испытательный прибор для логических схем, m; тестер для логических схем, m pranc. testeur des circuits logiques, m …

    Radioelektronikos terminų žodynas

  • 7testeur des circuits logiques — loginių grandynų bandiklis statusas T sritis radioelektronika atitikmenys: angl. logic integrated circuit tester vok. Logiktester, m rus. испытательный прибор для логических схем, m; тестер для логических схем, m pranc. testeur des circuits… …

    Radioelektronikos terminų žodynas

  • 8испытательный прибор для логических схем — loginių grandynų bandiklis statusas T sritis radioelektronika atitikmenys: angl. logic integrated circuit tester vok. Logiktester, m rus. испытательный прибор для логических схем, m; тестер для логических схем, m pranc. testeur des circuits… …

    Radioelektronikos terminų žodynas

  • 9тестер для логических схем — loginių grandynų bandiklis statusas T sritis radioelektronika atitikmenys: angl. logic integrated circuit tester vok. Logiktester, m rus. испытательный прибор для логических схем, m; тестер для логических схем, m pranc. testeur des circuits… …

    Radioelektronikos terminų žodynas

  • 10Design for testing — Design for Test (aka Design for Testability or DFT ) is a name for design techniques that add certain testability features to a microelectronic hardware product design. The premise of the added features is that they make it easier to develop and… …

    Wikipedia