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  • 1Rastertransmissionselektronenmikroskop — Dieser Artikel wurde den Mitarbeitern der Redaktion Physik zur Qualitätssicherung aufgetragen. Wenn Du Dich mit dem Thema auskennst, bist Du herzlich eingeladen, Dich an der Prüfung und möglichen Verbesserung des Artikels zu beteiligen. Der… …

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  • 2Raster-Transmissionselektronenmikroskop — Ein Raster Transmissionselektronenmikroskop (engl. Scanning Transmission Electron Microscope, STEM) ist ein Elektronenmikroskop, bei dem ein Elektronenstrahl auf eine dünne Probe fokussiert wird und zeilenweise ein bestimmtes Bildfeld abrastert.… …

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  • 3STEM — Ein Raster Transmissionselektronenmikroskop (engl. Scanning Transmission Electron Microscope, STEM) ist ein Elektronenmikroskop, bei dem ein Elektronenstrahl auf eine dünne Probe fokussiert wird und zeilenweise ein bestimmtes Bildfeld abrastert.… …

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  • 4Transmissions-Elektronenmikroskop — Strahlengang im TEM mit kristalliner Probe, vereinfacht dargestellt. Die obere Beugungsebene entspricht der hinteren Brennebene des Objektivs. Die Transmissionselektronenmikroskopie (TEM, steht auch für Transmissionselektronenmikroskop) ist eine… …

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  • 5Transmissionselektronenmikroskop — Strahlengang im TEM mit kristalliner Probe, vereinfacht dargestellt. Die obere Beugungsebene entspricht der hinteren Brennebene des Objektivs. Die Transmissionselektronenmikroskopie (TEM, steht auch für Transmissionselektronenmikroskop) ist eine… …

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  • 6Transmissionselektronenmikroskopie — Strahlengang im TEM mit kristalliner Probe, vereinfacht dargestellt. Die obere Beugungsebene entspricht der hinteren Brennebene des Objektivs. Die Transmissionselektronenmikroskopie (TEM, steht auch für Transmissionselektronenmikroskop) ist eine… …

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  • 7Transmissionsmikroskopie — Strahlengang im TEM mit kristalliner Probe, vereinfacht dargestellt. Die obere Beugungsebene entspricht der hinteren Brennebene des Objektivs. Die Transmissionselektronenmikroskopie (TEM, steht auch für Transmissionselektronenmikroskop) ist eine… …

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  • 8List of materials analysis methods — List of materials analysis methods: Contents: Top · 0–9 · A B C D E F G H I J K L M N O P Q R S T U V W X Y Z μSR see Muon spin spectroscopy …

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  • 9Annular dark-field imaging — is a method of mapping samples in a scanning transmission electron microscope (STEM). These images are formed by collecting scattered electrons with an annular dark field detector in scanning transmission electron microscopes.For dark field… …

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  • 10Kikuchi line — s, they are easily seen in diffraction from regions of the specimen thick enough for multiple scattering [David B. Williams and C. Barry Carter (1996) Transmission electron microscopy: A textbook for materials science (Plenum Press, NY) ISBN 0… …

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