focused ion beams
1Focused Ion Beam — Foto eines FIB Arbeitsplatzes Ein Focused Ion Beam (Abk.: FIB; englisch für „fokussierter Ionenstrahl“, deutsch auch Ionenfeinstrahlanlage) ist ein Gerät zur Oberflächenanalyse und bearbeitung. Steht der Materialabtrag im Vordergrund, heißt das… …
2Focused ion beam — Focused ion beam, also known as FIB, is a technique used particularly in the semiconductor and materials science fields for site specific analysis, deposition, and ablation of materials. The FIB is a scientific instrument that resembles a… …
3Ion beam deposition — (IBD) is a process of applying materials to a target through the application of an ion beam.In an ion source source materials gases or evaporated solids are ionized using electron ionization or by application of high electric fields (Penning ion… …
4Ion beam — An ion beam is a type of particle beam consisting of ions. Ion beams have many uses in electronics manufacturing (principally ion implantation) and other industries. Today s ion beam sources are typically derived from the mercury vapor thrusters… …
5Ion thruster — An ion thruster is a form of electric propulsion used for spacecraft propulsion that creates thrust by accelerating ions. Ion thrusters are characterized by how they accelerate the ions, using either electrostatic or electromagnetic force.… …
6Secondary ion mass spectrometry — Infobox chemical analysis name = Secondary ion mass spectrometry caption =CAMECA IMS3f Magnetic SIMS Instrument acronym = SIMS classification =Mass spectrometry analytes = Solid surfaces, thin films related = Fast atom bombardment… …
7Gas cluster ion beam — Gas Cluster Ion Beams (GCIB) is a new technology for nano scale modification of surfaces. It can smooth a wide variety of surface material types to within an angstrom of roughness without subsurface damage. It is also used to chemically alter… …
8Photonic metamaterial — Electromagnetism Electricity · …
9Сфокусированный ионный пучок — Сфокусированный (фокусированный) ионный пучок (СИП или ФИП) (англ. Focused ion beam (FIB))  широко используемая методика в материаловедении для локального анализа, н …
10Фотонный кристалл — Фотонный кристалл  это материал, структура которого характеризуется периодическим изменением показателя преломления в пространственных направлениях[1]. В другой работе[2] встречается расширенное определение фотонных кристаллов … …
