fluoreszenzschirm
11ICCD — Ein Intensified Charge Coupled Device (ICCD) ist ein Bildsensor, der aus einem CCD besteht, an dem durch eine Faseroptik eine Mikrokanalplatte zur Erhöhung der Empfindlichkeit angekoppelt ist. Die frontseitige Photokathode der Mikrokanalplatte… …
12Intensified CCD — Ein Intensified Charge Coupled Device (ICCD) ist ein Bildsensor, der aus einem CCD besteht, an dem durch eine Faseroptik eine Mikrokanalplatte zur Erhöhung der Empfindlichkeit angekoppelt ist. Die frontseitige Photokathode der Mikrokanalplatte… …
13MEED — Elektronenbeugung ist die Beeinflussung der Ausbreitung von Elektronen durch elastische Streuung an einem Ensemble von Streuobjekten (Atomen). Über den Welle Teilchen Dualismus sind den Elektronen die de Broglie Wellenlängen zugeordnet, so dass… …
14SIMS — Sekundärionen Massenspektrometrie (SIMS) ist eine Methode der Oberflächenphysik/Oberflächenchemie und gehört wie Sekundär Neutralteilchen Massen Spektrometrie (SNMS), Rutherford Backscattering (RBS) und Low Energy Ion Scattering (LEIS) zu den… …
15Sekundär-Ionen-Massen-Spektrometrie — Sekundärionen Massenspektrometrie (SIMS) ist eine Methode der Oberflächenphysik/Oberflächenchemie und gehört wie Sekundär Neutralteilchen Massen Spektrometrie (SNMS), Rutherford Backscattering (RBS) und Low Energy Ion Scattering (LEIS) zu den… …
16Sekundärionen-Massenspektrometrie — (SIMS) ist eine Methode der Oberflächenphysik/Oberflächenchemie und gehört wie Sekundär Neutralteilchen Massen Spektrometrie (SNMS), Rutherford Backscattering Spectrometry (RBS) und niederenergetische Ionenstreuspektroskopie (LEIS) zu den… …
17Sekundärionen-Massenspektroskopie — Sekundärionen Massenspektrometrie (SIMS) ist eine Methode der Oberflächenphysik/Oberflächenchemie und gehört wie Sekundär Neutralteilchen Massen Spektrometrie (SNMS), Rutherford Backscattering (RBS) und Low Energy Ion Scattering (LEIS) zu den… …
18Sekundärionenmassenspektrometer — Sekundärionen Massenspektrometrie (SIMS) ist eine Methode der Oberflächenphysik/Oberflächenchemie und gehört wie Sekundär Neutralteilchen Massen Spektrometrie (SNMS), Rutherford Backscattering (RBS) und Low Energy Ion Scattering (LEIS) zu den… …
19Sekundärionenmassenspektrometrie — Sekundärionen Massenspektrometrie (SIMS) ist eine Methode der Oberflächenphysik/Oberflächenchemie und gehört wie Sekundär Neutralteilchen Massen Spektrometrie (SNMS), Rutherford Backscattering (RBS) und Low Energy Ion Scattering (LEIS) zu den… …
20Video-LEED — Elektronenbeugung ist die Beeinflussung der Ausbreitung von Elektronen durch elastische Streuung an einem Ensemble von Streuobjekten (Atomen). Über den Welle Teilchen Dualismus sind den Elektronen die de Broglie Wellenlängen zugeordnet, so dass… …
