elektronenvervielfacher
11Micro-channel plate — Mikrokanalplatte zur Montage in einem Versuchsapparatur. Die eigentliche Mikrokanalplatte befindet sich innerhalb des gelben Ringes Eine Mikrokanalplatte (gebräuchlich ist auch der englische Begriff micro channel plate, abgekürzt MCP) ist ein… …
12Microchannel plate — Mikrokanalplatte zur Montage in einem Versuchsapparatur. Die eigentliche Mikrokanalplatte befindet sich innerhalb des gelben Ringes Eine Mikrokanalplatte (gebräuchlich ist auch der englische Begriff micro channel plate, abgekürzt MCP) ist ein… …
13Mikrokanalplatte — zur Montage in einem Versuchsapparatur. Die eigentliche Mikrokanalplatte befindet sich innerhalb des vergoldeten Ringes Eine Mikrokanalplatte (gebräuchlich ist auch der englische Begriff micro channel plate, abgekürzt MCP) ist ein flächenhafter,… …
14Multi Channel Plate — Mikrokanalplatte zur Montage in einem Versuchsapparatur. Die eigentliche Mikrokanalplatte befindet sich innerhalb des gelben Ringes Eine Mikrokanalplatte (gebräuchlich ist auch der englische Begriff micro channel plate, abgekürzt MCP) ist ein… …
15SIMS — Sekundärionen Massenspektrometrie (SIMS) ist eine Methode der Oberflächenphysik/Oberflächenchemie und gehört wie Sekundär Neutralteilchen Massen Spektrometrie (SNMS), Rutherford Backscattering (RBS) und Low Energy Ion Scattering (LEIS) zu den… …
16Sekundär-Ionen-Massen-Spektrometrie — Sekundärionen Massenspektrometrie (SIMS) ist eine Methode der Oberflächenphysik/Oberflächenchemie und gehört wie Sekundär Neutralteilchen Massen Spektrometrie (SNMS), Rutherford Backscattering (RBS) und Low Energy Ion Scattering (LEIS) zu den… …
17Sekundärionen-Massenspektrometrie — (SIMS) ist eine Methode der Oberflächenphysik/Oberflächenchemie und gehört wie Sekundär Neutralteilchen Massen Spektrometrie (SNMS), Rutherford Backscattering Spectrometry (RBS) und niederenergetische Ionenstreuspektroskopie (LEIS) zu den… …
18Sekundärionen-Massenspektroskopie — Sekundärionen Massenspektrometrie (SIMS) ist eine Methode der Oberflächenphysik/Oberflächenchemie und gehört wie Sekundär Neutralteilchen Massen Spektrometrie (SNMS), Rutherford Backscattering (RBS) und Low Energy Ion Scattering (LEIS) zu den… …
19Sekundärionenmassenspektrometer — Sekundärionen Massenspektrometrie (SIMS) ist eine Methode der Oberflächenphysik/Oberflächenchemie und gehört wie Sekundär Neutralteilchen Massen Spektrometrie (SNMS), Rutherford Backscattering (RBS) und Low Energy Ion Scattering (LEIS) zu den… …
20Sekundärionenmassenspektrometrie — Sekundärionen Massenspektrometrie (SIMS) ist eine Methode der Oberflächenphysik/Oberflächenchemie und gehört wie Sekundär Neutralteilchen Massen Spektrometrie (SNMS), Rutherford Backscattering (RBS) und Low Energy Ion Scattering (LEIS) zu den… …
