electron microscope microanalysis
21Raymond Castaing — Raimond Castaing Pour les articles homonymes, voir Castaing (homonymie). Raimond Castaing Raimond Castaing est un physicien …
22Canon à électrons — Schéma d un canon à électrons. Un canon à électrons est un dispositif permettant de produire un faisceau d électrons. C est l un des composants essentiels d un tube cathodique ou d un instrument tel que le microscope électronique. Sommaire …
23Rasterelektronenmikroskop — Unterschiedliche Pollen, mit ihren verschiedenen Oberflächen, aufgenommen mit dem Rasterelektronenmikroskop Als Rasterelektronenmikroskop (REM) (englisch scanning electron microscope, SEM) bezeichnet man ein Elektronenmikroskop, bei dem ein… …
24Canon a electrons — Canon à électrons Pour les articles homonymes, voir Canon. Schéma d un canon à électrons. Le canon à électrons est un des composants essentiels d un tube cathodiqu …
25Canon À Électrons — Pour les articles homonymes, voir Canon. Schéma d un canon à électrons. Le canon à électrons est un des composants essentiels d un tube cathodiqu …
26Energy-dispersive X-ray spectroscopy — (EDS, EDX or EDXRF) is an analytical technique used for the elemental analysis or chemical characterization of a sample. As a type of spectroscopy, it relies on the investigation of a sample through interactions between electromagnetic radiation… …
27Aspex — Infobox Company company name = Aspex Corporation company type = Privately held company foundation = 1992 location city = Delmont, PA location country = USA location = origins = key people = Harry Shimp, CEO Greg Ott, President area served =… …
28Hyperspectral imaging — collects and processes information from across the electromagnetic spectrum. Unlike the human eye, which just sees visible light, hyperspectral imaging is more like the eyes of the mantis shrimp, which can see visible light as well as from the… …
29List of materials analysis methods — List of materials analysis methods: Contents: Top · 0–9 · A B C D E F G H I J K L M N O P Q R S T U V W X Y Z μSR see Muon spin spectroscopy …
30Trace evidence — contends that every contact, no matter how slight, will leave a trace. The trace is normally caused by objects or substances contacting one another, and leaving a minute sample on the contact surfaces. Material is often transferred by heat… …
