diffraction maximum
121OPTIQUE - Optique instrumentale — On appelle «instrument d’optique» tout système formant l’image d’un objet sur un ou plusieurs récepteurs sensibles à la lumière et dont le rôle est de percevoir ou d’exploiter cette image. Par exemple, une lunette comporte plusieurs lentilles… …
122PHOTOGRAPHIE — La perception de l’apparence du monde matériel par notre organe visuel a comme support la lumière visible ou les autres radiations électromagnétiques, rendues visibles par l’intermédiaire de phénomènes auxiliaires. L’emploi direct de l’ensemble… …
123Ewald's sphere — The Ewald sphere is a geometric construct used in electron, neutron, and X ray crystallography which neatly demonstrates the relationship between: :* the wavelength of the incident and diffracted x ray beams, :* the diffraction angle for a given… …
124Rietveld refinement — is a technique devised by Hugo Rietveld for use in the characterisation of crystalline materials. The neutron and x ray diffraction of powder samples results in a pattern characterised by peaks in intensity at certain positions. The height, width …
125Formule De Scherrer — Pour les articles homonymes, voir Scherrer. La formule de Scherrer, ou relation de Laue Scherrer, est une formule utilisée en diffraction X sur des poudres ou échantillons polycristallins. Elle relie la largeur des pics de diffraction ou des… …
126Formule de Scherrer — Pour les articles homonymes, voir Scherrer. La formule de Scherrer, ou relation de Laue Scherrer, est une formule utilisée en diffraction X sur des poudres ou échantillons polycristallins. Elle relie la largeur des pics de diffraction ou des… …
127Formule de scherrer — Pour les articles homonymes, voir Scherrer. La formule de Scherrer, ou relation de Laue Scherrer, est une formule utilisée en diffraction X sur des poudres ou échantillons polycristallins. Elle relie la largeur des pics de diffraction ou des… …
128Loi de Scherrer — Formule de Scherrer Pour les articles homonymes, voir Scherrer. La formule de Scherrer, ou relation de Laue Scherrer, est une formule utilisée en diffraction X sur des poudres ou échantillons polycristallins. Elle relie la largeur des pics de… …
