de-broglie-wellenlänge

  • 101Ramsauer-Effekt — Der Ramsauer Effekt, auch als Ramsauer Townsend Effekt bekannt, bezeichnet die extreme Durchlässigkeit von Gasen gegenüber langsamen Elektronen und wurde von Carl Ramsauer 1920 entdeckt. Er gilt heute als der erste experimentelle Hinweis darauf,… …

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  • 102Sonnensegel — (Entwurf) Künstlerische Darstellung eines Sonnensegels …

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  • 103Teilchengeschwindigkeit — Maxwell Boltzmann Verteilung Parameter Definitionsbereich Wahrscheinlichkeitsdichte …

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  • 104Wahrscheinlichste Teilchengeschwindigkeit — Maxwell Boltzmann Verteilung Parameter Definitionsbereich Wahrscheinlichkeitsdichte …

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  • 105Elektronenstrahl — Als Elektronenstrahl bezeichnet man Elektronen, die sich entlang einer Linie mit gleicher Geschwindigkeit in eine Richtung bewegen. Herstellung „Elektronenkanone“, ausgebaut aus einem Farbfernseher. links: Seitenansicht; Deutlich zu erkennen die… …

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  • 106Casimir-Effekt — Illustration der Casimir Kraft auf zwei parallele Platten Der Casimir Effekt ist ein quantenphysikalischer Effekt, der bewirkt, dass auf zwei parallele leitende Platten im Vakuum eine Kraft wirkt, die beide zusammendrückt.[1][2] Der Casimir… …

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  • 107Dichtefunktionaltheorie (Statistische Physik) — Die Dichtefunktionaltheorie ist in der statistischen Physik eine Methode, das Verhalten eines Vielteilchensystems (etwa eines Gases in einem Behälter) zu beschreiben. Dazu liefert sie für gegebene Parameter (u. a. Temperatur und… …

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  • 108Feldionenmikroskop — FIM Bild einer Wolframspitze in <110> Orientierung bei 11kV. Die Ringstruktur resultiert aus der Anordnung der Atome in einem krz Gitter. Einzelne helle Punkte können als einzelne Atome interpretiert werden …

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  • 109Focused Ion Beam — Foto eines FIB Arbeitsplatzes Ein Focused Ion Beam (Abk.: FIB; englisch für „fokussierter Ionenstrahl“, deutsch auch Ionenfeinstrahlanlage) ist ein Gerät zur Oberflächenanalyse und bearbeitung. Steht der Materialabtrag im Vordergrund, heißt das… …

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  • 110Helium-Ionen-Mikroskop — Ein Helium Ionen Mikroskop (auch: Scanning Helium Ion Microscope, SHIM) ist ein bildgebendes Verfahren, welches darauf basiert, dass ein Helium Ionen Strahl das zu untersuchende Objekt abtastet[1]. Das Verfahren ähnelt dem eines… …

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