ускоряющая линза
1ЛИНЗА акустическая — устройство для фокусировки звука путём изменения длины пути, проходимого акустич. волной, и её преломления (рефракции) на граничных поверхностях. Свойства Л. определяются свойствами материала линзы и окружающей её среды и формой преломляющих… …
2ЭЛЕКТРОННЫЙ МИКРОСКОП — прибор, который позволяет получать сильно увеличенное изображение объектов, используя для их освещения электроны. Электронный микроскоп (ЭМ) дает возможность видеть детали, слишком мелкие, чтобы их мог разрешить световой (оптический) микроскоп.… …
3ЭЛЕКТРОННО-ЛУЧЕВЫЕ ПРИБОРЫ — электронные электровакуумные приборы, в к рых для индикации, коммутации и др. целей используется поток электронов, сконцентрированный в форме луча или пучка лучей. Э. л. п., имеющие форму трубки, вытянутой в направлении луча, наз. электронно… …
4просвечивающий электронный микроскоп — Transmission Electron Microscope (TEM) Просвечивающий электронный микроскоп (ПЭМ) Прибор, создающий увеличенное до просвечивающий электронный микроскоп106 раз изображение образца с помощью электронного пучка (1 – 5000 кэВ), проходящего через …
5TEM — Transmission Electron Microscope (TEM) Просвечивающий электронный микроскоп (ПЭМ) Прибор, создающий увеличенное до TEM106 раз изображение образца с помощью электронного пучка (1 – 5000 кэВ), проходящего через образец. Электронный пучок… …
6transmission electron microscope — Transmission Electron Microscope (TEM) Просвечивающий электронный микроскоп (ПЭМ) Прибор, создающий увеличенное до transmission electron microscope106 раз изображение образца с помощью электронного пучка (1 – 5000 кэВ), проходящего через… …
7УСКОРИТЕЛИ ЗАРЯЖЕННЫХ ЧАСТИЦ — установки, служащие для ускорения заряж. частиц до высоких энергий. При обычном словоупотреблении ускорителями (У.) наз. установки, рассчитанные на ускорение частиц до энергий более МэВ. На рекордном У. протонов теватроне достигнута энергия 940… …
8сканирующий электронный микроскоп — Scanning Electron Microscope (SEM) Сканирующий электронный микроскоп (СЭМ) Прибор, позволяющий получать изображения поверхности образца с большим разрешением (менее микрометра). Исследуемый образец в условиях вакуума сканируется… …
9scanning electron microscope — Scanning Electron Microscope (SEM) Сканирующий электронный микроскоп (СЭМ) Прибор, позволяющий получать изображения поверхности образца с большим разрешением (менее микрометра). Исследуемый образец в условиях вакуума сканируется… …
