туннельный микроскоп
71scanning tunneling microscope — rastrinis tunelinis mikroskopas statusas T sritis chemija apibrėžtis Mikroskopas, kuriuo matomą vaizdą sukuria tunelinė srovė, atsirandanti tarp zondo ir bandinio. atitikmenys: angl. scanning tunneling microscope rus. растровый туннельный… …
72СТМ — Строительный техникум Мосгорисполкома Москва, образование и наука, техн. СТМ собственная торговая марка Источник: http://www.sostav.ru/news/2004/07/14/r2/ СТМ ТМС система телемеханики в маркировке …
73Кантилевер — Для улучшения этой статьи желательно?: Найти и оформить в виде сносок ссылки на авторитетные источники, подтверждающие написанное …
74Особенность-ориентированное сканирование — (ООС, англ. FOS – feature oriented scanning)[1][2][3][4] способ прецизионного измерения рельефа поверхности на сканирующем зондовом микроскопе, при котором особенности (объекты) поверхности служат в качестве опорных точек для привязки зонда… …
75Особенность-ориентированное позиционирование — (ООП, англ. FOP feature oriented positioning)[1][2] способ прецизионного перемещения зонда сканирующего микроскопа по исследуемой поверхности, при котором особенности (объекты) поверхности используются в качестве опорных точек для привязки… …
76Встречное сканирование — (ВС, англ. CS counter scanning)[1][2][3] способ сканирования, позволяющий исправлять искажения растра, вызываемые дрейфом зонда сканирующего микроскопа относительно измеряемой поверхности. В ходе ВС получают два скана поверхности – прямой и… …
77Встречно-сканированные изображения — (ВСИ, англ. CSI, CSIs counter scanned images)[1][2][3][4]  пара изображений, получаемая при встречном сканировании. При встречном сканировании возможно получение одной или двух пар ВСИ (см. Рис. 1). Каждая пара состоит из прямого и …
78ООСЗМ — Особенность ориентированное сканирование (ООС)[1][2] метод прецизионного измерения нанотопографии поверхности, а также других её свойств и характеристик на сканирующем зондовом микроскопе (СЗМ), при котором особенности (объекты) поверхности… …
79Объектно-ориентированное сканирование — Особенность ориентированное сканирование (ООС)[1][2] метод прецизионного измерения нанотопографии поверхности, а также других её свойств и характеристик на сканирующем зондовом микроскопе (СЗМ), при котором особенности (объекты) поверхности… …
80Физика — I. Предмет и структура физики Ф. – наука, изучающая простейшие и вместе с тем наиболее общие закономерности явлений природы, свойства и строение материи и законы её движения. Поэтому понятия Ф. и сё законы лежат в основе всего… …
