технологические нормы
81стандарт организации — 2.6 стандарт организации : Стандарт, утвержденный и применяемый организацией для целей стандартизации, а также для совершенствования производства и обеспечения качества продукции, выполнения работ, оказания услуг, а также для распространения и… …
Словарь-справочник терминов нормативно-технической документации
82Научно-исследовательский институт системных исследований — НИИСИ Тип НИИ Год основания 1986 Расположение Москва Ключевые фигуры …
831801BMx — 1801ВМx  серия советских 16 разрядных однокристальных микропроцессоров. Первоначально разрабатывалась[1] как однокристальная ЭВМ (микроконтроллер) 1801ВЕ1 (с собственной архитектурой «Электроника НЦ»), который в свою очередь был развитием… …
84К1801ВМ1 — 1801ВМx серия советских 16 разрядных микропроцессоров. Первоначально разрабатывалась[1] как однокристальная ЭВМ (микроконтроллер) 1801ВЕ1 с собственной архитектурой “Электроника НЦ”. Позднее по требованию министерства от этой архитектуры… …
85КМ1801ВМ2 — 1801ВМx серия советских 16 разрядных микропроцессоров. Первоначально разрабатывалась[1] как однокристальная ЭВМ (микроконтроллер) 1801ВЕ1 с собственной архитектурой “Электроника НЦ”. Позднее по требованию министерства от этой архитектуры… …
86КМ1801ВМ3 — 1801ВМx серия советских 16 разрядных микропроцессоров. Первоначально разрабатывалась[1] как однокристальная ЭВМ (микроконтроллер) 1801ВЕ1 с собственной архитектурой “Электроника НЦ”. Позднее по требованию министерства от этой архитектуры… …
87НИИСИ — Год основания 1986 Ключевые фигуры директор В.Б.Бетелин Тип НИИ Расположение Москва Веб сайт …
88НИИСИ РАН — НИИСИ Год основания 1986 Ключевые фигуры директор В.Б.Бетелин Тип НИИ Расположение Москва Веб сайт …
89Тверской торгово-экономический колледж — Для улучшения этой статьи желательно?: Проставить интервики в рамках проекта Интервики …
90Дифракционный предел — Дифракционный предел  это минимальное значение размера пятна (Пятно рассеяния), которое можно получить, фокусируя электромагнитное излучение. Меньший размер пятна не позволяет получить явление дифракции электромагнитных волн. Дифракционный… …
