схема сканирования
1азимутальная плоскость: Плоскость сканирования — 3.5 азимутальная плоскость: Плоскость сканирования для сканирующих ультразвуковых преобразователей или главная продольная плоскость для несканирующих преобразователей. [См. МЭК 61828 и рисунок 1] x азимутальная ось; y ось пучка; z ось обзора; 1… …
Словарь-справочник терминов нормативно-технической документации
2РД 19.100.00-КТН-545-06: Ультразвуковой контроль стенки и сварных соединений при эксплуатации и ремонте вертикальных стальных резервуаров — Терминология РД 19.100.00 КТН 545 06: Ультразвуковой контроль стенки и сварных соединений при эксплуатации и ремонте вертикальных стальных резервуаров: Дефект : здесь: несплошность в металле стенки резервуара, в сварном соединении, отклонение… …
Словарь-справочник терминов нормативно-технической документации
3Проведение контроля. — 4.5.10 Проведение контроля. 4.5.10.1 Ультразвуковой контроль проводят в соответствии с операционной технологической картой контроля (Приложение Д). 4.5.10.2 Контроль сварных соединений осуществляют путем перемещения (сканирования) ПЭП (см. Рис.… …
Словарь-справочник терминов нормативно-технической документации
4Сканирующий туннельный микроскоп — Схема работы сканирующего туннельного микроскопа Сканирующий туннельный микроскоп (СТМ …
5Ионная имплантация — Схема установки для ионной имплантации и селекции ионов по энергии. Ионная имплантация  способ введения атомов примесей в поверхностный слой пластины или эпитаксиальной пленки путем бомбардировки ег …
6РД 08.00-60.30.00-КТН-046-1-05: Неразрушающий контроль сварных соединений при строительстве и ремонте магистральных нефтепроводов — Терминология РД 08.00 60.30.00 КТН 046 1 05: Неразрушающий контроль сварных соединений при строительстве и ремонте магистральных нефтепроводов: 1.4.15 Бригада сварщиков группа аттестованных в установленном порядке сварщиков, назначенных… …
Словарь-справочник терминов нормативно-технической документации
7СПЕКТРАЛЬНЫЕ ПРИБОРЫ — приборы для исследования в оптич. диапазоне (10 3 103 мкм; (см. СПЕКТРЫ ОПТИЧЕСКИЕ)) спектр. состава эл. магн. излучений по длинам волн, нахождения спектр. хар к излучателей и объектов, взаимодействовавших с излучением, а также для спектрального… …
8Сканирующий атомно-силовой микроскоп — Атомно силовой микроскоп Атомно силовой микроскоп (АСМ, англ. AFM atomic force microscope)  сканирующий зондовый микроскоп высокого разрешения. Используется для определения рельефа поверхности с разрешением от дес …
9Электронный микроскоп — прибор для наблюдения и фотографирования многократно (до 106 раз) увеличенного изображения объектов, в котором вместо световых лучей используются пучки электронов, ускоренных до больших энергий (30 100 кэв и более) в условиях глубокого… …
10ГОСТ Р МЭК 62127-1-2009: Государственная система обеспечения единства измерений. Параметры полей ультразвуковых. Общие требования к методам измерений и способам описания полей в частотном диапазоне от 0,5 до 40 МГц — Терминология ГОСТ Р МЭК 62127 1 2009: Государственная система обеспечения единства измерений. Параметры полей ультразвуковых. Общие требования к методам измерений и способам описания полей в частотном диапазоне от 0,5 до 40 МГц оригинал документа …
Словарь-справочник терминов нормативно-технической документации
