сфокусированный пучок
11well-focused beam — gerai sufokusuotas pluoštas statusas T sritis radioelektronika atitikmenys: angl. well focused beam vok. scharffokusierter Strahl, m; scharffokusiertes Strahlenbündel, n rus. хорошо сфокусированный пучок, m pranc. faisceau bien focalisé, m …
12FIB — Сфокусированный ионный пучок Федерация международного бенди фр. Fédération Internationale du Béton …
13Электронный зонд — 9. Электронный зонд Электронный пучок, имеющий минимальное сечение в заданной плоскости Источник: ГОСТ 21006 75: Микроскопы электронные. Термины, определения и буквенные обозначения …
Словарь-справочник терминов нормативно-технической документации
14электронный зонд РЭМ — 3.17 электронный зонд РЭМ: Сфокусированный на поверхности объекта электронный пучок РЭМ. Источник: ГОСТ Р 8.631 2007: Государственная система обеспечения единства измерений. Микроскопы электрон …
Словарь-справочник терминов нормативно-технической документации
15ЭЛЕКТРОННЫЕ ЛИНЗЫ — устройства, предназначенные для формирования пучков эл нов, их фокусировки и создания электронно оптич. изображений объектов (см. ЭЛЕКТРОННАЯ И ИОННАЯ ОПТИКА, ЭЛЕКТРОННЫЙ МИКРОСКОП). Аналогичные устройства, в к рых используются пучки ионов, наз.… …
17ЭЛЕКТРОВАКУУМНЫЕ И ГАЗОРАЗРЯДНЫЕ ПРИБОРЫ — электронные лампы, используемые для генерации, усиления или стабилизации электрических сигналов. Электронная лампа представляет собой, по существу, герметичную ампулу, в вакууме или газовой среде которой движутся электроны. Ампулу обычно… …
18МИКРОСКОПИЯ АКУСТИЧЕСКАЯ — совокупность методов визуализации микроструктуры и формы малых объектов с помощью УЗ и гиперзвуковых волн. Она включает в себя также методы измерения локальных характеристик упругих и вязких свойств объекта и их распределений но его поверхности… …
19Сканирующий гелиевый ионный микроскоп — Сканирующий ионный гелиевый микроскоп (СИГМ)  сканирующий (растровый) микроскоп, по принципу работы аналогичный сканирующему электронному микроскопу, но использующий вместо электронов пучок ионов гелия. Содержание 1 Источник ионов 2 Оптика …
20Дифракция отражённых электронов — Картина, полученная методом дифракции отражённых электронов (National Institute of Standards and Technology Materials Reliability Division) …
