структурная электронография
1ЭЛЕКТРОНОГРАФИЯ — метод изучения структуры в ва, основанный на исследовании рассеяния образцом ускоренных эл нов. Применяется для изучения ат. структуры кристаллов, аморфных тел и жидкостей, молекул газов и паров. Физ. основа Э. дифракция эл нов (см. ДИФРАКЦИЯ… …
2Электронография — (от Электрон и ...графия метод изучения структуры вещества, основанный на рассеянии ускоренных электронов исследуемым образцом. Применяется для изучения атомной структуры кристаллов, аморфных тел и жидкостей, молекул в газах и парах.… …
3ЭЛЕКТРОНОГРАФИЯ — метод исследования атомной структуры в ва, гл. обр. кристаллов, основанный на дифракции электронов (см. Дифракционные методы). Существует неск. вариантов метода. Основным является Э. на просвет, при этом используют дифракцию электронов высоких… …
4Структурная химия — Структурная химия  раздел, область химии, изучающая связь различных физических и физико химических свойств различных веществ с их химическим строением и реакционной способностью. Структурная химия рассматривает не только геометрическое… …
5СТРУКТУРНАЯ ХИМИЯ — область химии, изучающая связь разл. физ. и физ. хим. св в в в с их хим. строением и реакц. способностью. В первую очередь С. х. рассматривает геом. строение молекул, описываемое такими осн. параметрами, как длины хим. связей, валентные углы,… …
6Рентгеновский структурный анализ — методы исследования структуры вещества по распределению в пространстве и интенсивностям рассеянного на анализируемом объекте рентгеновского излучения. Р. с. а. наряду с нейтронографией (См. Нейтронография) и электронографией (См.… …
7ДИФРАКЦИОННЫЕ МЕТОДЫ — исследования структуры в ва, основаны на изучении углового распределения интенсивности рассеяния исследуемым в вом излучения рентгеновского (в т. ч. синхротронного), потока электронов или нейтронов и мёссбауэровского g излучения. Соотв. различают …
8Дифракция частиц — рассеяние микрочастиц (электронов, нейтронов, атомов и т.п.) кристаллами или молекулами жидкостей и газов, при котором из начального пучка частиц данного типа возникают дополнительно отклонённые пучки этих частиц; направление и… …
9Вайнштейн — I Вайнштейн Борис Константинович (р. 10.7.1921, Москва), советский кристаллограф, член корреспондент АН СССР (1962). Член КПСС с 1957. Окончил МГУ (1945), затем институт стали (1947). С 1949 работает в институте кристаллографии АН СССР, с …
10ДИФРАКЦИЯ ЧАСТИЦ — упругое когерентное рассеяние микрочастиц объектами (т. е. рассеяние, происходящее без изменения рассеивающего объекта), при к ром из нач. пучка частиц возникают отклонённые от него дифракц. пучки. Д. ч. имеет место при рассеянии нейтронов,… …
