микроскопы
41элемент рельефа (поверхности) — 3.3 элемент рельефа (поверхности): Пространственно локализованная часть рельефа поверхности. Источник: ГОСТ Р 8.631 2007: Государственная система обеспечения единства измерений. Микроскопы элек …
Словарь-справочник терминов нормативно-технической документации
42Микроскопия — В Википедии …
43Рентгеновская микроскопия — Рентгеновский микроскоп устройство для исследования очень малых объектов, размеры которых сопоставимы с длиной рентгеновской волны. Основан на использовании электромагнитного излучения с длиной волны от 0,01 до 1 нанометра. Рентгеновские… …
44Микроскоп рентгеновский — Рентгеновский микроскоп устройство для исследования очень малых объектов, размеры которых сопоставимы с длиной рентгеновской волны. Основан на использовании электромагнитного излучения с длиной волны от 0,01 до 1 нанометра. Рентгеновские… …
45МИКРОСКОП — оптический прибор с одной или несколькими линзами для получения увеличенных изображений объектов, не видимых невооруженным глазом. Микроскопы бывают простые и сложные. Простой микроскоп это одна система линз. Простым микроскопом можно считать… …
46Музей искусств и ремёсел (Париж) — Координаты: 48°51′58″ с. ш. 2°21′19″ в. д. / 48.866111° с. ш. 2.355278° в. д.  …
47Z-сканер сканирующего зондового атомно-силового микроскопа (Z-сканер) — 3.14 Z сканер сканирующего зондового атомно силового микроскопа (Z сканер): Устройство сканирующего зондового атомно силового микроскопа, позволяющее в процессе сканирования удерживать зонд в вертикальном положении и обеспечивающее постоянное… …
Словарь-справочник терминов нормативно-технической документации
48высоковольтный растровый электронный микроскоп — 3.19 высоковольтный растровый электронный микроскоп: РЭМ, ускоряющее напряжение которого не менее 15 кВ. Источник: ГОСТ Р 8.631 2007: Государственная система обеспечения единства измерений. Мик …
Словарь-справочник терминов нормативно-технической документации
49медленные вторичные электроны — 3.21 медленные вторичные электроны; МВЭ: Группа вторичных электронов, возникающая в результате взаимодействия электронного зонда с исследуемым объектом, энергия которых не превышает 50 эВ (≈ 8×10 18 Дж). Источник …
Словарь-справочник терминов нормативно-технической документации
50низковольтный растровый электронный микроскоп — 3.18 низковольтный растровый электронный микроскоп: РЭМ, ускоряющее напряжение которого не более 2 кВ. Источник: ГОСТ Р 8.631 2007: Государственная система обеспечения единства измерений. Микро …
Словарь-справочник терминов нормативно-технической документации