ионный микроскоп
11автоэмиссионный ионный микроскоп — autoemisinis joninis mikroskopas statusas T sritis chemija apibrėžtis Mikroskopas, kuriuo matomą vaizdą sukuria emituoti bandinio jonai. atitikmenys: angl. field emission ion microscope rus. автоэмиссионный ионный микроскоп …
12ИОННЫЙ ПРОЕКТОР — (полевой ионный микроскоп, автоионный микроскоп), безлинзовый ионно оптич. прибор для получения увеличенного в неск. млн. раз изображения поверхности тв. тела. С помощью И. п. можно различать детали поверхности, разделённые расстояниями порядка 2 …
13Сканирующий гелиевый ионный микроскоп — Сканирующий ионный гелиевый микроскоп (СИГМ)  сканирующий (растровый) микроскоп, по принципу работы аналогичный сканирующему электронному микроскопу, но использующий вместо электронов пучок ионов гелия. Содержание 1 Источник ионов 2 Оптика …
14Микроскоп — [microscope] (от микро... и греч. skopeo смотрю) оптический прибор для получения сильно увеличенных изображений объектов (или деталей их структуры), не видимых невооруженным глазом. Первый прибор типа микроскоп был построен около 1590 г.… …
15Микроскоп ионный — см. Ионный микроскоп …
16Ионный источник — устройство для получения направленных потоков (пучков) ионов. И. и. является важной частью ускорителей заряженных частиц (См. Ускорители заряженных частиц), масс спектрометров (См. Масс спектрометры), ионных микроскопов (См. Ионный… …
17ионный проектор — (полевой ионный микроскоп), безлинзовый ионно оптический прибор для получения увеличенного (в 106 107 раз) изображения поверхности твёрдого тела. Позволяет наблюдать расположение отдельных атомов в кристаллической решётке. Представляет собой… …
18Ионный проектор — автоионный микроскоп, безлинзовый ионно оптический прибор для получения увеличенного в несколько миллионов раз изображения поверхности твёрдого тела. С помощью И. п. можно различать детали поверхности, разделённые расстояниями порядка 2 3 …
19ионный проектор — Смотри автоионный микроскоп (ионный проектор) …
20Сфокусированный ионный пучок — Сфокусированный (фокусированный) ионный пучок (СИП или ФИП) (англ. Focused ion beam (FIB))  широко используемая методика в материаловедении для локального анализа, н …
