- магниторезонансный
-
магниторезонансный
Слитно или раздельно? Орфографический словарь-справочник. — М.: Русский язык. Б. З. Букчина, Л. П. Какалуцкая. 1998.
магниторезонансный
Смотреть что такое "магниторезонансный" в других словарях:
магниторезонансный — прил., кол во синонимов: 1 • магнито резонансный (2) Словарь синонимов ASIS. В.Н. Тришин. 2013 … Словарь синонимов
МАГНИТОРЕЗОНАНСНЫЙ МАСС-СПЕКТРОМЕТР — устройство, в к ром для разделения ионов по отношению массы к заряду используется движение «узкого» пакета ионов, сформированного в модуляторе, в однородном магн. поле. Ионы, циклотронная частота к рых совпадает с частотой перем. напряжения,… … Физическая энциклопедия
Медицинская техника — I Медицинская техника технические средства, используемые с целью диагностики, лечения и медицинской реабилитации, а также для проведения профилактических, санитарно гигиенических и противоэпидемических мероприятий. Возникновение и… … Медицинская энциклопедия
МАСС-СПЕКТРОМЕТР — прибор для разделения ионизов. молекул и атомов по их массам, основанный на воздействии магн. и электрич. полей на пучки ионов, летящих в вакууме. В М. с. регистрация ионов осуществляется электрич. методами, в м а с с с п е к т р о г р а ф а х по … Физическая энциклопедия
Сканирующий туннельный микроскоп — Схема работы сканирующего туннельного микроскопа Сканирующий туннельный микроскоп (СТМ … Википедия
Кантилевер — Для улучшения этой статьи желательно?: Найти и оформить в виде сносок ссылки на авторитетные источники, подтверждающие написанное … Википедия
Особенность-ориентированное сканирование — (ООС, англ. FOS – feature oriented scanning)[1][2][3][4] способ прецизионного измерения рельефа поверхности на сканирующем зондовом микроскопе, при котором особенности (объекты) поверхности служат в качестве опорных точек для привязки зонда… … Википедия
Особенность-ориентированное позиционирование — (ООП, англ. FOP feature oriented positioning)[1][2] способ прецизионного перемещения зонда сканирующего микроскопа по исследуемой поверхности, при котором особенности (объекты) поверхности используются в качестве опорных точек для привязки… … Википедия
Встречное сканирование — (ВС, англ. CS counter scanning)[1][2][3] способ сканирования, позволяющий исправлять искажения растра, вызываемые дрейфом зонда сканирующего микроскопа относительно измеряемой поверхности. В ходе ВС получают два скана поверхности – прямой и… … Википедия
Сканирующий атомно-силовой микроскоп — Атомно силовой микроскоп Атомно силовой микроскоп (АСМ, англ. AFM atomic force microscope) сканирующий зондовый микроскоп высокого разрешения. Используется для определения рельефа поверхности с разрешением от дес … Википедия
