микроскопия медленных электронов

микроскопия медленных электронов
Термин
микроскопия медленных электронов
Термин на английском
low-­energy electron microscopy
Синонимы
Аббревиатуры
LEEM
Связанные термины
электронная микроскопия, электронный микроскоп, модель поверхности Si(111)7x7
Определение
вид микроскопии, в которой для формирования изображения поверхности твердого тела используют упруго отраженные электроны низких энергий.
Описание
Микроскопия медленных электронов была изобретена Э. Бауэром (Ernst Bauer) в начале 1960-х годов и стала достаточно широко использоваться в исследованиях поверхности, начиная с 1980-х годов. В микроскопе первичные электроны низких энергий (обычно до 100 эВ) попадают на исследуемую поверхность, а отраженные электроны используются для формирования фокусированного увеличенного изображения поверхности. Пространственное разрешение такого микроскопа составляет десятки нм. Контраст изображения обусловлен вариацией отражательной способности поверхности по отношению к медленным электронам из-за различия в ориентации кристалла, поверхностной реконструкции, покрытия адсорбатом. Так как микроскопические изображения могут быть получены очень быстро, микроскопия медленных электронов часто используется для изучения динамических процессов на поверхности, таких как рост тонких пленок, травление, адсорбция и фазовые переходы в реальном масштабе времени. В качестве примера на рис.1 показано микроскопическое изображение поверхности Si(111) в ходе фазового перехода от реконструкции 7x7 к реконструкции 1x1, происходящего при температуре 860 оС.
Авторы
  • Зотов Андрей Вадимович, д.ф.-м.н.
  • Саранин Александр Александрович, д.ф.-м.н.
Ссылки
  1. Введение в физику поверхности: Пер. с англ. / Оура Кендзиро, Лифшиц В.Г., Саранин А.А., Зотов А.В., Катаяма М. - М. Наука, 2006. - 490 с.
  2. Tromp R.M. Low energy electron microscopy // IBM J. Res. and Develop. - Vol. 44, 2000 - P. 503-516
Иллюстрации
Рис. 1. Изображение в микроскопе медленных электронов фазового перехода от реконструкции 7х7 к

Рис. 1. Изображение в микроскопе медленных электронов фазового перехода от реконструкции 7х7 к реконструкции 1х1 на поверхности Si(111). Фаза 7х7 (светлые участки) декорирует атомные ступени, тогда как поверхность террас в основном покрыта структурой 1х1 (темные участки). Размер поля изображения 5 мкм.  


Источник: Tromp R.M. Low energy electron microscopy // IBM J. Res. and Develop. - Vol. 44, 2000 - P. 503-516

Теги
Разделы
Электронная спектроскопия

Энциклопедический словарь нанотехнологий. — Роснано. 2010.

Игры ⚽ Поможем решить контрольную работу

Полезное


Смотреть что такое "микроскопия медленных электронов" в других словарях:

  • электронная микроскопия — Термин электронная микроскопия Термин на английском electron microscopy Синонимы Аббревиатуры EM Связанные термины микроскоп, микроскопия, микроскопия медленных электронов, порометрия, протеомика, электронно колебательная спектроскопия,… …   Энциклопедический словарь нанотехнологий

  • электронный микроскоп — Термин электронный микроскоп Термин на английском electron microscope Синонимы Аббревиатуры Связанные термины микроскоп, микроскопия, микроскопия медленных электронов, отражательная электронная микроскопия, просвечивающий электронный микроскоп,… …   Энциклопедический словарь нанотехнологий

  • модель поверхности Si(111)7x7 — Термин модель поверхности Si(111)7x7 Термин на английском DAS model Синонимы Аббревиатуры Связанные термины дифракция медленных электронов, микроскопия медленных электронов, поверхность, сканирующая туннельная микроскопия, суперструктура… …   Энциклопедический словарь нанотехнологий

  • Электронная спектроскопия — Статьигибридные материалымикроскопия медленных электроновмолекулярная электронная спектроскопияобратная фотоэмиссионная спектроскопиярентгеновская фотоэлектронная спектроскопияэлектронно колебательная спектроскопия (Источник: «Словарь основных… …   Энциклопедический словарь нанотехнологий

  • ПОВЕРХНОСТЬ — граница разделамежду двумя контактирующими средами. В разл. ситуациях употребляются такжетермины: свободная, или атом но чистая, П. (П. твёрдого тела в вакууме …   Физическая энциклопедия

  • поверхность — Термин поверхность Термин на английском surface Синонимы Аббревиатуры Связанные термины атомно силовая микроскопия, десорбция, дифракция медленных электронов, коллоидная химия, сканирующая туннельная микроскопия, поверхностная релаксация,… …   Энциклопедический словарь нанотехнологий

  • Суперструктура поверхности — (англ. surface superstructure) термин, используемый для обозначения специфической структуры верхнего атомного слоя (или нескольких слоев) кристалла[1]. Описание Возникновение термина «суперструктура» обусловлено тем, что структура… …   Википедия

  • ЭЛЕКТРОННЫЙ МИКРОСКОП — прибор для наблюдения и фотографирования многократно (до 106 раз) увеличенного изображения объекта, в к ром вместо световых лучей используются пучки электронов, ускоренных до больших энергий (30 1000 кэВ и более) в условиях глубокого вакуума. Физ …   Физическая энциклопедия

  • СССР. Естественные науки —         Математика          Научные исследования в области математики начали проводиться в России с 18 в., когда членами Петербургской АН стали Л. Эйлер, Д. Бернулли и другие западноевропейские учёные. По замыслу Петра I академики иностранцы… …   Большая советская энциклопедия

  • ЛОКАЛЬНЫЙ АНАЛИЗ — определение хим. состава микрообъемов или тонких слоев твердого тела. Осн. метрологич. характеристика локальность, т. е. площадь или объем области, в к рой возможно обнаружение или определение хим. элемента с заданной погрешностью. Размер этой… …   Химическая энциклопедия


Поделиться ссылкой на выделенное

Прямая ссылка:
… Нажмите правой клавишей мыши и выберите «Копировать ссылку»