Методы локального и нелокального (Auger, XPS) анализа поверхности


Методы локального и нелокального (Auger, XPS) анализа поверхности

Статьи


Энциклопедический словарь нанотехнологий. — Роснано. 2010.

Смотреть что такое "Методы локального и нелокального (Auger, XPS) анализа поверхности" в других словарях:

  • Методы диагностики и исследования наноструктур и наноматериалов — ПодразделыЗондовые методы микроскопии и спектроскопии: атомно силовая, сканирующая туннельная, магнитно силовая и др.Сканирующая электронная микроскопияПросвечивающая электронная микроскопия, в том числе высокого разрешенияЛюминесцентная… …   Энциклопедический словарь нанотехнологий

  • рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия — Термин рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия Термин на английском X ray photoelectron spectroscopy Синонимы электронная спектроскопия для химического анализа Аббревиатуры РФЭС, XPS, ЭСХА, ESCA Связанные термины рентгеновская спектроскопия,… …   Энциклопедический словарь нанотехнологий

  • электронная Оже-спектроскопия — Термин электронная Оже спектроскопия Термин на английском Auger electron spectroscopy Синонимы Оже спектроскопия Аббревиатуры ЭОС, AES Связанные термины ультрафиолетовая фотоэлектронная спектроскопия, рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия… …   Энциклопедический словарь нанотехнологий

  • Получение, диагностика и сертификация наноразмерных систем — ПодразделыМетоды нанесения элементов наноструктур и наноматериаловФизические методы (лазерные, электронно лучевые, ионно плазменные) осаждения слоев нанометровых толщинХимическое, термическое и электродуговое ocаждение из газовой фазы (в том… …   Энциклопедический словарь нанотехнологий


Поделиться ссылкой на выделенное

Прямая ссылка:
Нажмите правой клавишей мыши и выберите «Копировать ссылку»

We are using cookies for the best presentation of our site. Continuing to use this site, you agree with this.