- микроскопия зондовая
-
- Термин
- микроскопия зондовая
- Термин на английском
- probe microscopy
- Синонимы
- Аббревиатуры
- Связанные термины
- атомно-силовая микроскопия, микроскоп, просвечивающий электронный микроскоп, сканирующая туннельная микроскопия, зонд, сканирующая зондовая микроскопия
- Определение
совокупность методов определения локальных механических, электрических, магнитных и других свойств поверхности и формирования изображения поверхности различных веществ и материалов с помощью различных микрозондов.
- Описание
Результатами зондовой микроскопии являются трехмерные изображения поверхности исследуемых объектов с пространственным разрешением, доходящим для некоторых из методов до нескольких ангстрем. Наиболее распространенными видами зондовой микроскопии являются сканирующая туннельная микроскопия и атомно-силовая микроскопия. Семейство зондовых микроскопов общирно, и, наряду со сканирующим туннельным и атомно-силовым микроскопами, включает многие другие типы устройств: сканирующий оптический микроскоп ближнего поля (разрешение до 50 нм), сканирующий емкостной микроскоп (разрешение до 500 нм), сканирующий тепловой микроскоп (продольное пространственное разрешение 50 нм), сканирующий бесконтактный микроскоп (пространственное разрешение в плоскости образца 5 нм), магнитно-силовой микроскоп (разрешение менее 100 нм), сканирующий фрикционный микроскоп, электростатический силовой микроскоп, сканирующий микроскоп неупругого туннелирования для регистрации фононных спектров молекул, микроскоп с эмиссией баллистических электронов, силовой микроскоп с инверсной фотоэмиссией, акустический микроскоп ближнего поля.
Возможно также использование зондовых микроскопов в качестве нанотехнологических инструментов, позволяющих изменять строение поверхности вещества (материала) на уровне отдельных атомов.
- Авторы
- Гусев Александр Иванович, д.ф.-м.н.
- Ссылки
- Гусев А. И. Наноматериалы, наноструктуры, нанотехнологии. Изд. 2-е, исправленное и дополненное. - Москва: Наука-Физматлит, 2007 - 416 с.
- Неволин В. К. Зондовые нанотехнологии в электронике. - М.: Техносфера, 2005 - 152 с.
- Иллюстрации
Сканирующий электронный зондовый микроскоп MULTIPROBE P
(Omicron NanoTechnology GmbH, Germany)
- Теги
- Разделы
- Использование наноманипуляторов и зондов
Методы диагностики и исследования наноструктур и наноматериалов
Технология
Наука
(Источник: «Словарь основных нанотехнологических терминов РОСНАНО») - Термин
Энциклопедический словарь нанотехнологий. — Роснано. 2010.