- 18986.24
- ГОСТ 18986.24{-83}
Диоды полупроводниковые. Метод измерения пробивного напряжения.ОКС: 31.080.10КГС: Э29 Методы испытаний. Упаковка. МаркировкаДействие: С 01.07.84
Справочник ГОСТов. 2009.
18986.24
Смотреть что такое "18986.24" в других словарях:
18986.11 — ГОСТ 18986.11{ 84} Диоды полупроводниковые. Методы измерения последовательного сопротивления потерь. ОКС: 31.080.10 КГС: Э29 Методы испытаний. Упаковка. Маркировка Взамен: ГОСТ 18986.11 74 Действие: С 01.07.85 Текст документа: ГОСТ 18986.11… … Справочник ГОСТов
18986.12 — ГОСТ 18986.12{ 74} Диоды полупроводниковые туннельные. Метод измерения отрицательной проводимости перехода. ОКС: 31.080.10 КГС: Э29 Методы испытаний. Упаковка. Маркировка Действие: С 01.07.76 Примечание: переиздание 1983 в сб. ГОСТ 18986.0 74… … Справочник ГОСТов
18986.13 — ГОСТ 18986.13{ 74} Диоды полупроводниковые туннельные. Методы измерения пикового тока, тока впадины, пикового напряжения, напряжения впадины, напряжения раствора. ОКС: 31.080.10 КГС: Э29 Методы испытаний. Упаковка. Маркировка Действие: С 01.07.76 … Справочник ГОСТов
18986.14 — ГОСТ 18986.14{ 85} Диоды полупроводниковые. Методы измерения дифференциального и динамического сопротивлений. ОКС: 31.080.10 КГС: Э29 Методы испытаний. Упаковка. Маркировка Взамен: ГОСТ 18986.14 75, ГОСТ 19656.8 74 Действие: С 01.07.86 Текст… … Справочник ГОСТов
18986.16 — ГОСТ 18986.16{ 72} Диоды полупроводниковые выпрямительные. Методы измерения среднего значения прямого напряжения и среднего значения обратного тока. ОКС: 31.080.10 КГС: Э29 Методы испытаний. Упаковка. Маркировка Действие: С 01.01.74 Изменен: ИУС… … Справочник ГОСТов
18986.17 — ГОСТ 18986.17{ 73} Стабилитроны полупроводниковые. Метод измерения температурного коэффициента напряжения стабилизации. ОКС: 31.080 КГС: Э29 Методы испытаний. Упаковка. Маркировка Действие: С 01.07.74 Изменен: ИУС 10/82 Примечание: переиздание… … Справочник ГОСТов
18986.18 — ГОСТ 18986.18{ 73} Варикапы. Метод измерения температурного коэффициента емкости. ОКС: 31.080.10 КГС: Э29 Методы испытаний. Упаковка. Маркировка Действие: С 01.07.74 Изменен: ИУС 9/82 Примечание: переиздание 1983 в сб. ГОСТ 18986.0 74 Текст… … Справочник ГОСТов
18986.20 — ГОСТ 18986.20{ 77} Стабилитроны полупроводниковые прецизионные. Метод измерения времени выхода на режим. ОКС: 31.080 КГС: Э29 Методы испытаний. Упаковка. Маркировка Действие: С 01.01.79 Изменен: ИУС 2/87 Примечание: переиздание 1983 в сб. ГОСТ… … Справочник ГОСТов
18986.21 — ГОСТ 18986.21{ 78} Стабилитроны и стабисторы полупроводниковые. Метод измерения временной нестабильности напряжения стабилизации. ОКС: 31.080 КГС: Э29 Методы испытаний. Упаковка. Маркировка Действие: С 01.01.80 Примечание: переиздание 1983 в сб.… … Справочник ГОСТов
18986.22 — ГОСТ 18986.22{ 78} Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения дифференциального сопротивления. ОКС: 31.080 КГС: Э29 Методы испытаний. Упаковка. Маркировка Взамен: ГОСТ 15603 70 Действие: С 01.01.80 Изменен: ИУС 10/82 Примечание: переиздание … Справочник ГОСТов
18986.6 — ГОСТ 18986.6{ 73} Диоды полупроводниковые. Метод измерения заряда восстановления. ОКС: 31.080.10 КГС: Э29 Методы испытаний. Упаковка. Маркировка Взамен: ГОСТ Действие: С 01.01.75 Изменен: ИУС 9/82 Примечание: переиздание 1983 в сб. ГОСТ 18986.0… … Справочник ГОСТов
