- расфокусированный пучок
-
defocused beam
Англо-русский словарь технических терминов. 2005.
Англо-русский словарь технических терминов. 2005.
Сканирующий гелиевый ионный микроскоп — Сканирующий ионный гелиевый микроскоп (СИГМ) сканирующий (растровый) микроскоп, по принципу работы аналогичный сканирующему электронному микроскопу, но использующий вместо электронов пучок ионов гелия. Содержание 1 Источник ионов 2 Оптика … Википедия