- метод электронографии
-
electron-diffraction method
Англо-русский словарь технических терминов. 2005.
Англо-русский словарь технических терминов. 2005.
Вайнштейн, Борис Константинович — В Википедии есть статьи о других людях с именем Вайнштейн, Борис. Борис Константинович Вайнштейн Дата рождения: 10 июля 1921(1921 07 10) Место рождения … Википедия
Борис Вайнштейн — Борис Константинович Вайнштейн Дата рождения: 10 июля 1921 Место рождения: СССР, Москва Гражданство … Википедия
Борис Константинович Вайнштейн — Дата рождения: 10 июля 1921 Место рождения: СССР, Москва Гражданство … Википедия
Вайнштейн Б. — Борис Константинович Вайнштейн Дата рождения: 10 июля 1921 Место рождения: СССР, Москва Гражданство … Википедия
Вайнштейн Б. К. — Борис Константинович Вайнштейн Дата рождения: 10 июля 1921 Место рождения: СССР, Москва Гражданство … Википедия
Вайнштейн Борис Константинович — Борис Константинович Вайнштейн Дата рождения: 10 июля 1921 Место рождения: СССР, Москва Гражданство … Википедия
Вайнштейн Борис — Борис Константинович Вайнштейн Дата рождения: 10 июля 1921 Место рождения: СССР, Москва Гражданство … Википедия
ЭЛЕКТРОННАЯ МИКРОСКОПИЯ — совокупность методов исследования с помощью электронных микроскопов (МЭ) микроструктур тел (вплоть до атомно молекулярного уровня), их локального состава и локализованных на поверхностях или в микрообъёмах тел электрич. и магн. полей… … Физическая энциклопедия
электронография — и; ж. [от греч. ēlektron янтарь и graphō пишу] Метод изучения структуры вещества, основанный на рассеянии ускоренных электронов исследуемым образцом. * * * электронография метод исследования строения веществ, основанный на дифракции электронов… … Энциклопедический словарь
СССР. Естественные науки — Математика Научные исследования в области математики начали проводиться в России с 18 в., когда членами Петербургской АН стали Л. Эйлер, Д. Бернулли и другие западноевропейские учёные. По замыслу Петра I академики иностранцы… … Большая советская энциклопедия
РЕНТГЕНОВСКИЙ СТРУКТУРНЫЙ АНАЛИЗ — методы исследования структуры в ва по распределению в пр ве и интенсивностям рассеянного на анализируемом объекте рентгеновского излучения. Р. с. а. наряду с нейтронографией и электронографией явл. дифракц. структурным методом; в его основе лежит … Физическая энциклопедия