- wafer prober
- установка зондового контроля (полупроводниковых пластин)
Большой англо-русский и русско-английский словарь. 2001.
wafer prober
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Wafer prober — A wafer prober is a machine used to test integrated circuits. OverviewIntegrated circuits are fabricated in large numbers by a complex series of printing steps on silicon wafers. This process permits integrated circuits to be produced cheaply but … Wikipedia
wafer prober — zondinis plokštelės bandiklis statusas T sritis radioelektronika atitikmenys: angl. wafer prober vok. Wafersondenprüfgerät, n rus. зондовый тестер для проверки пластины, m pranc. essayeur de la tranche, m … Radioelektronikos terminų žodynas
Wafer testing — is a step performed during semiconductor device fabrication. During this step, performed before a wafer is sent to die preparation, all individual integrated circuits that are present on the wafer are tested for functional defects by applying… … Wikipedia
Wafer Sort Test — Der Wafer Test ist eine Funktionsprüfung im Fertigungsablauf bei der Produktion von integrierten Schaltungen. Er wird an dem noch nicht zerteilten Wafer durchgeführt, um fehlerhafte Schaltungen frühzeitig zu erkennen. Dafür wird der Wafer in ein… … Deutsch Wikipedia
Non-contact wafer testing — Wafer testing is a normal step in semiconductor device fabrication, used to detect defects in integrated circuits (IC) before they are assembled during the IC packaging step. Traditional (contact) wafer testing Probing ICs while they are still on … Wikipedia
Electrical Wafer Sorting — Pour les articles homonymes, voir EWS. L Electrical Wafer Sorting (E.W.S.) est un procédé permettant de trier les puces fonctionnelles sur les plaques de silicium dès leur sortie de l usine, avant leur mise en boîtier. Fonction EWS :… … Wikipédia en Français
Probe card — A probe card is an interface between an electronic test system and a semiconductor wafer. Its purpose is to provide an electrical path between the test system and the circuits on the wafer, thereby permitting the testing and validation of the… … Wikipedia
Wafertest — Der Wafer Test ist eine Funktionsprüfung im Fertigungsablauf bei der Produktion von integrierten Schaltungen. Er wird an dem noch nicht zerteilten Wafer durchgeführt, um fehlerhafte Schaltungen frühzeitig zu erkennen. Dafür wird der Wafer in ein… … Deutsch Wikipedia
Oblea (electrónica) — Para otros usos de este término, véase Oblea (desambiguación). Una oblea de silicio grabada En microelectrónica, una oblea es una fina plancha de material semiconductor, como por ejemplo cristal de silicio, sobre la que se construyen… … Wikipedia Español
Wafersondenprüfgerät — zondinis plokštelės bandiklis statusas T sritis radioelektronika atitikmenys: angl. wafer prober vok. Wafersondenprüfgerät, n rus. зондовый тестер для проверки пластины, m pranc. essayeur de la tranche, m … Radioelektronikos terminų žodynas
essayeur de la tranche — zondinis plokštelės bandiklis statusas T sritis radioelektronika atitikmenys: angl. wafer prober vok. Wafersondenprüfgerät, n rus. зондовый тестер для проверки пластины, m pranc. essayeur de la tranche, m … Radioelektronikos terminų žodynas
