- scan-path testability
- контролепригодность, обеспечиваемая методом сканирования пути
Большой англо-русский и русско-английский словарь. 2001.
scan-path testability
Смотреть что такое "scan-path testability" в других словарях:
Joint Test Action Group — (JTAG) is the usual name used for the IEEE 1149.1 standard entitled Standard Test Access Port and Boundary Scan Architecture for test access ports used for testing printed circuit boards using boundary scan.JTAG was an industry group formed in… … Wikipedia
IEEE 1149.1 — JTAG steht für Joint Test Action Group und bezeichnet normalerweise den IEEE Standard 1149.1, der ein Verfahren zum Testen und Debuggen von elektronischer Hardware direkt in der Schaltung beschreibt. Der JTAG Standard entstand durch einen… … Deutsch Wikipedia
JTAG — steht für Joint Test Action Group und bezeichnet normalerweise den IEEE Standard 1149.1, der ein Verfahren zum Testen und Debuggen von elektronischer Hardware direkt in der Schaltung beschreibt. Der JTAG Standard entstand durch einen… … Deutsch Wikipedia
Joint Test Action Group — (kurz JTAG) bezeichnet den IEEE Standard 1149.1, der eine Ansammlung von Verfahren zum Testen und Debuggen von elektronischer Hardware direkt in der Schaltung beschreibt. Das heute prominenteste und gleichzeitig zuerst in JTAG implementierte… … Deutsch Wikipedia
Digital electronics — Main articles: Electronics and Electronic circuit Digital electronics represent signals by discrete bands of analog levels, rather than by a continuous range. All levels within a band represent the same signal state. Relatively small changes to… … Wikipedia
