- pin-test mode
- режим тестирования по функциям выводов
Большой англо-русский и русско-английский словарь. 2001.
pin-test mode
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Test microélectronique — Cet article concerne le test de composants microélectroniques. Plusieurs points seront developpés: Pourquoi tester les composants Lien entre le design et le test Différents test appliqués aux composants Sommaire 1 Raison du test de composants 1.1 … Wikipédia en Français
Test probe — Typical passive oscilloscope probe being used for testing an integrated circuit. A test probe (test lead, test prod, or scope probe) is a physical device used to connect electronic test equipment to the device under test (DUT). They range from… … Wikipedia
Joint Test Action Group — (JTAG) is the usual name used for the IEEE 1149.1 standard entitled Standard Test Access Port and Boundary Scan Architecture for test access ports used for testing printed circuit boards using boundary scan.JTAG was an industry group formed in… … Wikipedia
Joint Test Action Group — (kurz JTAG) bezeichnet den IEEE Standard 1149.1, der eine Ansammlung von Verfahren zum Testen und Debuggen von elektronischer Hardware direkt in der Schaltung beschreibt. Das heute prominenteste und gleichzeitig zuerst in JTAG implementierte… … Deutsch Wikipedia
RS-232 — This article is about the RS 232 standard. For RS 232 variants, see serial port. A 25 pin connector as described in the RS 232 standard In telecommunications, RS 232 (Recommended Standard 232) is the traditional name for a series of standards for … Wikipedia
JESD204 — JEDEC JESD204A (2008) is a new industry standard for the interconnection of digital to analog converter (DAC or D to A) or analog to digital converter (abbreviated ADC, A/D or A to D) and logic devices which supports the concept of multiple… … Wikipedia
iOS version history — Contents 1 Overview 2 Versions 2.1 Unreleased versions … Wikipedia
Boundary scan — is a method for testing interconnects (wire lines) on printed circuit boards or sub blocks inside an integrated circuit.The Joint Test Action Group (JTAG) developed a specification for boundary scan testing that was standardized in 1990 as the… … Wikipedia
Neo-Geo MVS — Pour les articles homonymes, voir Neo Geo. Le Neo Geo MVS (Multi Video System) est un système de jeux vidéo pour borne d arcade compatible JAMMA destiné aux salles d arcade et créé par la société japonaise SNK en 1990. Parallèlement, SNK… … Wikipédia en Français
IEEE 1149.1 — JTAG steht für Joint Test Action Group und bezeichnet normalerweise den IEEE Standard 1149.1, der ein Verfahren zum Testen und Debuggen von elektronischer Hardware direkt in der Schaltung beschreibt. Der JTAG Standard entstand durch einen… … Deutsch Wikipedia
JTAG — steht für Joint Test Action Group und bezeichnet normalerweise den IEEE Standard 1149.1, der ein Verfahren zum Testen und Debuggen von elektronischer Hardware direkt in der Schaltung beschreibt. Der JTAG Standard entstand durch einen… … Deutsch Wikipedia
