diffraction method
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Diffraction topography — (short: topography ) is an X ray imaging technique based on Bragg diffraction. Diffraction topographic images ( topographs ) record the intensity profile of a beam of X rays (or, sometimes, neutrons) diffracted by a crystal. A topograph thus… … Wikipedia
slow electron diffraction method — Смотри метод дифракции медленных электронов … Энциклопедический словарь по металлургии
Diffraction X — Diffractométrie de rayons X La diffractométrie de rayons X (DRX, on utilise aussi souvent l abréviation anglaise XRD pour X ray diffraction) est une technique d analyse basée sur la diffraction des rayons X sur la matière. La diffraction n ayant… … Wikipédia en Français
Diffraction de rayons X — Diffractométrie de rayons X La diffractométrie de rayons X (DRX, on utilise aussi souvent l abréviation anglaise XRD pour X ray diffraction) est une technique d analyse basée sur la diffraction des rayons X sur la matière. La diffraction n ayant… … Wikipédia en Français
Diffraction des rayons X — Diffractométrie de rayons X La diffractométrie de rayons X (DRX, on utilise aussi souvent l abréviation anglaise XRD pour X ray diffraction) est une technique d analyse basée sur la diffraction des rayons X sur la matière. La diffraction n ayant… … Wikipédia en Français
Diffraction grating — A very large reflecting diffraction grating. In optics, a diffraction grating is an optical component with a periodic structure, which splits and diffracts light into several beams travelling in different directions. The directions of these beams … Wikipedia
Diffraction de neutrons — La diffractométrie de neutrons est une technique d analyse basée sur la diffraction des neutrons sur la matière. Elle est complémentaire à la diffractométrie de rayons X. L appareil de mesure utilisé s appelle un diffractomètre. Les données… … Wikipédia en Français
Diffraction-limited system — Memorial to Ernst Karl Abbe, who approximated the diffraction limit of a microscope as , where d is the resolvable feature size, λ is the wavelength of light, n is the index of refraction of the medium being imaged in, and θ (depicted as α in the … Wikipedia
Reflection high energy electron diffraction — (RHEED) is a technique used to characterize the surface of crystalline materials. RHEED systems gather information only from the surface layer of the sample, which distinguishes RHEED from other materials characterization methods that rely also… … Wikipedia
Scientific method — … Wikipedia
Powder diffraction — is a scientific technique using X ray, neutron, or electron diffraction on powder or microcrystalline samples for structural characterization of materials. [B.D. Cullity Elements of X ray Diffraction Addison Wesley Mass. 1978] Explanation Ideally … Wikipedia
