СПЕКТРОМЕТРИЯ

СПЕКТРОМЕТРИЯ
СПЕКТРОМЕТРИЯ

       
область физики и техники, разрабатывающая теорию и методы измерении спектров. В оптич. диапазоне длин волн С. объединяет разделы прикладной спектроскопии, метрологии и теории линейных систем. С. служит для обоснования выбора принципиальных схем спектр. приборов и оптимизации методов расчёта. Подробнее (см. СПЕКТРАЛЬНЫЕ ПРИБОРЫ).

Физический энциклопедический словарь. — М.: Советская энциклопедия. . 1983.

СПЕКТРОМЕТРИЯ

оптическая (от спектр и греч. metres - измеряю)- совокупность методов и теория измерений спектров эл.-магн. излученияи изучение спектральных свойств веществ и тел в оптич. диапазоне длин волн(~1 нм - 1 мм). Измерения в С. осуществляются с помощью спектральныхприборов. Осн. задачи С.: теория спектральных приборов, модельное рассмотрениеусловий измерений в типовых вариантах, разработка критериев сравнения приборов, <способов оптимизации условий и режимов измерений с целью получения наиб. <точных результатов за наим. время.

Теоретические основы спектрометрии. Оптич. сигнал u(t )вовремени t может быть представлен преобразованием Фурье в виде линейнойкомбинации гармонич. сигналов с частотами v:
8057-10.jpg

где
8057-11.jpg

При таком рассмотрении измерение спектра сводится к нахождению амплитуди фаз комплексной ф-ции S(v), описывающей спектр сигнала u(t). Реальныевозможности измерений связаны с рядом ограничений и альтернатив. Во-первых, <приёмники излучения реагируют не на интенсивность излучения, а на поток, <пропорциональный произведению 8057-12.jpg. Во-вторых, в обычной (не лазерной) и. излучение чаще всего некогерентно, <т. к. испускается большим числом элементарных излучателей со случайнымиамплитудами и фазами (об особенностях С. когерентного излучения см. в ст. Лазер, <Лазерная спектроскопия). Поэтому u(t) - случайная ф-ция и, следовательно,S(v) - случайная величина. Для детерминиров. описания случайного процессаизлучения рассматривают спектр его мощности:
8057-13.jpg

Именно такой спектр измеряют с помощью реальных приёмников. Обратнымпреобразованием Фурье от Ф(v) является автокорреляц. ф-ция сигнала u(t):
8057-14.jpg

Ф-ции Ф(v8057-15.jpgсвязаны между собой преобразованиями Фурье:
8057-16.jpg

Т. о., исходный процесс u(t )может быть описан любой из ф-цийФ(v) и 8057-17.jpg,несущих в разной форме одно и то же кол-во информации. В связи с этим возможныдва типа измерит. систем в С.

В приборах, измеряющих непосредственно спектр Ф(v), излучение направляетсяна устройство, обладающее свойством спектральной селективности [выделяетузкий интервал 8057-18.jpg], и приёмник регистрирует мощность выделенной спектральной составляющейизлучения. Полный спектр Ф(v )получается или последоват. перестройкойчастоты - сканированием (одноканальные системы), или одновременным независимымприёмом излучения от мн. интервалов 8057-19.jpg (многоканальные системы).

Во втором варианте С. в процесс распространения излучения вводится переменнаявременная задержка т и измеряется автокорреляц. ф-ция 8057-20.jpg.наиб. эффективно это реализуется в двухлучевом интерферометре Майкельсона сканированиемпо разности хода 8057-21.jpg Изменениясигнала приёмника при таком сканировании дают интерферограмму 8057-22.jpg, фурье-образ к-рой представляет собой спектр 8057-23.jpg,где 8057-24.jpg- волновоечисло (8057-25.jpg,8057-26.jpg- длина волны). [Подробнее см. в ст. Фурье-спектрометр. Ниже рассматриваютсяметоды измерения Ф(v).]

Инструментальный контур. Модельные описания процессов измеренийв С. основываются на представлениях теории линейных систем. Спектральныйприбор воздействует на измеряемый спектр - входной сигнал 8057-27.jpg, поэтому наблюдаемый спектр 8057-28.jpgописывается в общем виде интегралом
8057-29.jpg

где 8057-30.jpg- аппаратная функция (АФ), или инструментальный контур, - индивидуальнаяхарактеристика измерит. прибора, зависящая от двух переменных:8057-31.jpg- физ. длины волны входящего излучения и 8057-32.jpg- приборной координаты, напр. спектральной шкалы прибора, по к-рой считываетсяотклик прибора, т. е. ф-ция 8057-33.jpg

Спектральные приборы чаще всего сочетают оптич. систему (формирующуюоптич. сигнал на приёмнике, преобразующем его в электрич. сигнал) с приёмно-регистрирующейсистемой, на к-рую поступает электрич. сигнал. Соответственно общая характеристикаприбора А распадается на оптическую и электрическую АФ. Рассмотримоптич. часть АФ.

Соотношение (1) позволяет указать способ определения контура 8057-34.jpg. Пусть входной сигнал представляет собой монохроматич. волну 8057-35.jpg,спектр к-рой бесконечно узкая спектральная линия - дельта-функция 8057-36.jpg.Тогда 8057-37.jpgт. е. АФ есть отклик линейного прибора на 8057-38.jpg -воздействие. <Для спектральных приборов на основе монохроматоров такая ситуация реализуетсяпри освещении входной щели излучением изолированной спектральной линиис шириной b л, много меньшей спектральной ширины щелей монохроматора. <На спектрограмме линия с длиной волны 8057-39.jpgизображается прибором в виде контура колоколообразной формы, максимум к-рогорасполагается на делении шкалы 8057-40.jpg, если шкала точна, или на ином значении 8057-41.jpg,если шкала смещена по к.-л. причинам. Ширина этого инструментального контурасоответствует эффективной спектральной ширине щелей s эф (учитывающейвклады дифракции, аберраций, разъюстировок).

Форма измеренного контура может быть различной. При сужении щелей доразмеров дифракц. уширения («нормальные» щели) контур А приближаетсяк виду 8057-42.jpg. В другом крайнем случае при достаточно широких щелях контур А приближаетсяк треугольному; это объясняется тем, что контур А соответствуетизменению сигнала приёмника при сканировании изображения входной щели поперёквыходной, при этом происходит свёртка двух П-контуров, к-рая и даёт в результатетреугольный контур:8057-43.jpg. При промежуточных значениях ширин щелей треугольный контур сглаживается, <что обычно удовлетворительно аппроксимируется гауссовой ф-цией (если аберрациине вносят асимметрии). Существенно подчеркнуть, что в рассматриваемом случаеаппаратная ф-ция А имеет ширину s эф в спектральных единицах(в шкале прибора 8057-44.jpg),но весь её контур соответствует одной физ. длине волны 8057-45.jpgмонохроматич. входящего излучения.

Если входящее излучение содержит ряд линий в нек-ром диапазоне длинволн и каждая из них отображается прибором в виде контуров одинаковой формы, <то говорят, что такой прибор обладает свойством спектральной инвариантностив данном диапазоне. В этом случае ф-ция А зависит только от разностиаргументов; обозначим её:8057-46.jpgДля такой ф-ции интеграл (1) описывает операцию свёртки:8057-47.jpg. Допущение об инвариантности является исходным в большинстве теоретич. <работ по С. Но в реальных широкодиапазонных приборах (со сменными дифракц. <решётками) инвариантность в рабочих режимах нередко не соблюдается, чтоприходится принимать во внимание при решении обратных задач - восстановленияистинного спектра по измеренному.

Для линейчатого спектра на входе вводится характеристика прибора, называемаяразрешением (возможность раздельного наблюдения двух близких линий равнойинтенсивности). Разрешение численно равно ширине ф-ции а, т. е. значениюs эф, т. к. при сближении двух линий 8057-48.jpgдо расстояния 8057-49.jpgих инструментальные контуры а 1 и а 2 илисливаются в трапецеидальный контур (при треугольной форме а), илиразделяются лишь небольшим провалом (при дифракц. форме а; Рэлея критерий). Отношениедлины волны к разрешению наз. разрешающей способностью:8057-50.jpg, где 8057-51.jpg.

Кроме отклика на одиночную 8057-52.jpg -функциюна входе важное значение для полноты модельного описания имеет др. предельныйслучай, когда входной сигнал обладает сплошным спектром (бесконечная последовательность 8057-53.jpg -функций).Тогда при фиксиров. положении всех оптич. элементов монохроматора (приостановленном сканировании) в фокальной плоскости образуется континууммонохроматич. изображений входной щели, последовательно смещённых за счётугл. дисперсии. Суперпозиция этой последовательности на выходной щели соответствуетоперации свёртки, в результате к-рой формируется выходящий поток. Контурего спектра, в отличие от АФ, наз. ф-цией пропускания (ФП). Длина волны, <соответствующая максимуму ФП, наз. длиной волны настройки 8057-54.jpg,ширина контура ФП наз. выделяемым спектральным интервалом 8057-55.jpg,отношение 8057-56.jpg- селективностью С.

Зная отклики прибора на два осн. вида тестовых сигналов -8057-57.jpg -функциюи сплошной фон, можно применять интеграл (1) к описанию измерений двухосн. видов спектров - излучения и поглощения (точнее - пропускания, т. <к. обычно измеряется не поток, поглощённый в веществе, а прошедший илиотражённый поток). Спектр потока 8057-58.jpgпредставляется суперпозицией линий или полос, описываемых произведенияминек-рой пост. величины на нормированную к единице ф-цию распределения 8057-59.jpg:
8057-60.jpg

Одиночная полоса в силу особенностей происхождения спектров (см. Спектрыоптические )имеет контур 8057-61.jpgколоколообразной формы, аппроксимируемый в первом приближении Гаусса функцией:
8057-62.jpg

где 8057-63.jpg- положение максимума, 6/ - ширина на полувысоте. Воздействие прибора на 8057-64.jpgописывается в соответствии с (1) выражением
8057-65.jpg

Здесь 8057-66.jpg- контур, наблюдаемый на выходе монохроматора в ходе сканирования,8057-67.jpg- инструментальный контур, обладающий свойством инвариантности. Важно подчеркнуть, <что при измерениях спектров поглощения или широких полос излучения инструментальныйконтур а в (2) должен соответствовать ФП и только при измерениях отд. линийизлучения свёртка (2) осуществляется с АФ. Анализ выражения (2) показывает, <что искажающее действие прибора тем больше, чем больше кривизна измеряемогоконтура, т. е. чем больше вторая производная 8057-68.jpg.Поэтому в качестве количеств. характеристики искажений принимается относит. <уменьшение максимума контура (где вторая производная наибольшая), называемоещелевой погрешностью 8057-69.jpgЭта погрешность пропорциональна квадрату отношения ширин контуров f и а. В гауссовом приближении 8057-70.jpg,если 8057-71.jpg,и измерения формы контуров спектров с погрешностью 8057-72.jpgвозможны лишь при s эф< bf/7.

В реальных приборах всегда имеет место расстояние излучения на оптич. <элементах. Кроме того, возможно появление на выходе излучения, проходящегов нерабочих порядках дифракции. Поэтому для целей измерений сплошных (полосатых)спектров описание прибора с помощью контуров АФ и ФП, локализованных тольков окрестности длины волны настройки, становится недостаточным. Необходимоучитывать также крылья контуров спектральных л и н и й.

Для каждой 8057-73.jpgна входе рассматривается контур АФ, записанный во всём рабочем диапазонесканирования от начальной 8057-74.jpgдо конечной 8057-75.jpg.В этом контуре, кроме осн. части спектральной линии шириной s эф в окрестности 8057-76.jpg,учитываются и протяжённые крылья от фона рассеянного излучения и дополнит. <пики от др. порядков дифракции на делениях шкалы 8057-77.jpg, т= 1, 2, 3... Совокупность таких АФ для всех элементарных компонент 8057-78.jpgисследуемого сплошного спектра даёт полную картину свойств прибора в егорабочем диапазоне:8057-79.jpg.Графически эта картина представляется трёхмерной поверхностью 8057-80.jpgи наз. полной аппаратной функцией (инвариантность в общем случае не предполагается).

Аналогичным образом рассматриваются ф-ции пропускания ФП для каждойдлины волны настройки 8057-81.jpgГл. части контуров ФП в окрестности 8057-82.jpgопределяют полезный поток на выходе:8057-83.jpg. Здесь 8057-84.jpg- спектральное распределение спектральной плотности яркости источника,8057-85.jpg- ширина ФП на 8057-86.jpg. Интеграл по области крыльев ФП определяет поток мешающего излучения . постороннихдлин волн. Подчеркнём, что спектр мешающего излучения определяется спектромвходящего потока и может быть существенно шире диапазона 8057-87.jpg, предусмотренного конструкцией прибора. Отношение потока к полезному потокуназ. уровнем мешающего излучения: w = Р/Ф макс Эта величина являетсяважнейшей характеристикой спектральных приборов, нередко лимитирующей точностьизмерений.

Полный набор всех АФ и полный набор всех ФП несут одну и ту же информациюо приборе. В графич. представлении совокупность всех АФ и ФП образует континуумывзаимно перпендикулярных сечений одной и той же трёхмерной полной АФ.

Модельное описание с помощью ф-ций АФ и ФП, изложенное на примере монохроматоровс решётками, применяется также и к др. приборам и методам С. со спектрально-селективнойфильтрацией или модуляцией - как одноканальным, так и многоканальным (см. <рис. 2 в ст. Спектральные приборы).

При достаточно полном устранении мешающего излучения, пренебрежимыхразмерах искажений монохроматич. изображений щели и отсутствии погрешностейв механизме сканирования можно полагать, что контуры АФ и ФП практическисовпадают, и тогда 8057-88.jpgи R = С. В дальнейшем будем полагать, что эти равенства выполняются.

Приёмно-регистрирующие системы и энергетические ограничения. В рамкахоптич. С. обычно предполагается, что источники шумов не столь велики, чтобыневозможно было корректно ставить задачу измерений формы контуров полосатыхспектров (или хотя бы интегральных интенсивностей в линейчатых спектрах).Условия измерений характеризуются значениями отношения сигнала к шуму М= Ф/Ф ш [Ф - полезный поток, Ф ш - поток, эквивалентныйшуму приёмно-регистрирующих систем (ПРС)], причём в С. значения М 8057-89.jpg1,а методами с меньшим значением М решают задачи выделения сигналана фоне шумов в общей теории оптико-электронных приборов. Используемыев С. ПРС разнообразны. Применяются и фотоэлектронные приёмники с уровнемшума, зависящим от сигнала (фотонный шум), и тепловые приёмники с уровнемшума, не зависящим от потока и имеющим равномерный частотный спектр (белыйшум); и те и другие могут работать в сочетании с ЭВМ. Универсальных моделейдля всех видов ПРС нет. Рассмотрим, напр., линейную модель типа (2):
8057-90.jpg

где F(t') - регистрируемый сигнал, J(t) - сигнал приёмника, <воспринимающего изменения потока во времени от сканирующего монохроматора,h(t- t')- импульсный отклик ПРС (реакция на 8057-91.jpg -импульсна входе), фурье-образ к-рого в пространстве частот,8057-92.jpg, наз. передаточной ф-цией. Если в ПРС колебания сигнала невелики и превалируетинерционное звено (напр., ДС-фильтр шумов с постоянной времени 8057-93.jpg),то имеет место простая связь 8057-94.jpgсохватываемой ф-цией 8057-95.jpgполосой частот 8057-96.jpg, Значениями 8057-97.jpgопределяютсяинерционные искажения контура входного сигнала J, а значениями 8057-98.jpg- уровень шумов на выходе.

Искажения контура J характеризуются инерционной погрешностью 8057-99.jpg (имеющей аналогично 8057-100.jpgсмысл относит. снижения максимума контура). При умеренных скоростях сканирования(8057-101.jpg , где bJ- ширина J в единицах спектральной шкалы) имеет место приближённоевыражение 8057-102.jpgНапр., измерения формы J контуров с погрешностью 8057-103.jpgвозможны лишь за время bJ/v, превышающее в 17 раз постояннуювремени 8057-104.jpg.

Инерционные погрешности могут быть уменьшены построением более сложныхПРС высших порядков или переходом к шаговому сканированию с отсчётом иусреднением сигнала на каждом шаге.

Если в системе применён приёмник с плотностью среднеквадратичного белогошума в единичной полосе частот Ф П1[Вт*Гц -1/2] и этаплотность не зависит от сигнала, то приведённый ко входу уровень шумовв системе с полосой 8057-105.jpgбудет 8057-106.jpgОбщее выражение для потока, проходящего через оптич. систему, имеет вид 8057-107.jpg(q- коэф. потерь, G - геометрический фактор системы). Отсюда получаетсявыражение для отношения сигнала к шуму, М=Ф/Ф Ш, и находятсяобщие энергетич. условия, определяющие диапазоны возможностей измерит. <систем рассматриваемого типа: для случая измерений полосатых спектров излученияи поглощения
8057-108.jpg

(G' - вертикальная составляющая геом. фактора приёмника); для случаяизмерений линейчатых спектров излучения
8057-109.jpg

Левая часть равенства (3) соответствует определению энергетическогофактора Q как отношения сигнал/шум при единичной полосе частот 8057-110.jpgи единичном выделяемом спектральном интервале 8057-111.jpgНаряду с Q пользуются также фактором качества К, значенияк-рого не зависят от выбора спектральной шкалы. Он получается из Q заменой 8057-112.jpgна 8057-113.jpg:
8057-114.jpg

Величины Q, К характеризуют качество прибора. Чем больше . и К, тем больше могут быть возможности измерений по разрешающей способности ft, отношению сигнал/шум М и быстродействию (т. к. чем больше 8057-115.jpg, тем меньше постоянная времени фильтра 8057-116.jpg,меньше инерционность и больше может быть скорость измерений). Правые частив соотношениях (3) и (4) показывают, от каких конструктивных параметровзависит качество прибора. Здесь видно, что вклад оптич. части прибора определяетсятолько двумя величинами (если она согласована с источником и приёмникомно геом. фактору) - коэф. потерь q и дифракц. пределом R диф= mNL (т - порядок спектра; N, L - частота штрихов и ширинарешётки), а вклады источника и приёмника - яркостью, плотностью шума ивеличиной G', согласованной с параметрами монохроматора: G' = hH/L, где h, Н - высоты щели и эшелотта.

Системы равного качества (в смысле Q, К )могут быть реализованыв трёх основных конструктивных направлениях:

1. Максимум R - построение приборов высокой разрешающей способности(до 106) с большими решётками, работающих медленно (8057-117.jpgГц, постоянная времени 8057-118.jpg -до десятков секунд) при небольших значениях М.

2. Максимум 8057-119.jpg- построение приборов скоростной С. с устройствами быстрого сканированияи регистрации (до 8057-120.jpgГц,8057-121.jpgс)при снижении R до 30-100.

3. Максимум М (до 105 при соответствующем диапазонелинейности) - построение приборов для прецизионных измерений контуров спектровпри умеренных R и 8057-122.jpg (см. Спектрофотометрия).

С помощью критериев Q или К оцениваются в С. возможностии др. типов систем. При этом могут изменяться показатели степени у 8057-123.jpgили R (напр., R3 в фурье-спектрометрах )либо 8057-124.jpgможет оказаться нерегулируемой константой, тогда параметр 8057-125.jpgпереходит в правую часть соотношений (3) и (4) и т. д. Вводятся также дополнит. <параметры, характеризующие спектральную или пространственную многоканальность, <квантовый выход, характер шумов, протяжённость регистрируемых диапазонов, <полное время измерений и т. п.

Оптимальные режимы, редукция. Общим свойством спектрометрич. <систем является альтернативное соотношение между систематическими и случайнымипогрешностями (шумами). Напр., в монохроматорах при уменьшении ширины щелей s эф систематич. погрешности 8057-126.jpgубывают пропорц. , но одновременно с такой же скоростью падает поток 8057-127.jpg (сигнал) и возрастает относит. уровень шумов - случайная погрешность 8057-128.jpg. При увеличении s эф, напротив, растут систематич.8057-129.jpg,но убывают случайные погрешности 8057-130.jpgВ благоприятных ситуациях (гладкие спектры, «мощный» прибор в смысле Q )можетсуществовать диапазон значений s эф, где обе погрешностипренебрежимы, но нередко такой диапазон отсутствует и возникает задачапоиска оптим. значения 8057-131.jpgпо подходящему критерию. Выбор критерия зависит от того, будет ли применятьсяредукция данных (методы решения обратных задач С.- нахождение истинногоконтура спектра по наблюдаемому).

Редукция прежде всего требует хорошего знания полной АФ прибора. Напр.,если измерения описываются свёрткой типа (2): J = f * а, то дляфурье-образов имеет место равенство 8057-132.jpg, и если а известна точно, а J не содержит шумов, то редукция эффективноосуществляется делением фурье-обраяов:8057-133.jpg.Наложение шумов или неполнота знания а резко ограничивают возможности редукции.

Если результаты измерений предполагается использовать непосредственно(без редукции), то подходящим критерием оптимума является общее требованиеминимума погрешностей, что формально сводится к отысканию таких значенийрегулируемых параметров (ширин оптической и электрической АФ), при к-рыхсумма систематических (щелевой и инерционной) и случайной погрешностейминимальна. Характер взаимосвязей в оптим. режиме можно выразить следующимобразом:
8057-134.jpg

Здесь точностью названа величина, обратная суммарной погрешности, аскоростью - величина 8057-135.jpg, где 8057-136.jpg- времярегистрации полосы шириной Ь. Существенно, что точность и скоростьнаходятся в альтернативном соотношении, показатель степени точности (4)определяет, насколько она критична, а показатели степени у параметров . и Q, от к-рых зависит константа справа, показывают, что структурностьизмеряемого спектра влияет на точность и производительность измерений сильнее, <чем «мощность» спектрометра.

Лит.: Толмачев Ю. А., Новые спектральные приборы, Л., 1976; МирошниковМ. М., Теоретические основы оптико-электронных приборов, 2 изд., Л., 1983;М и б е р н Д ж., Обнаружение и спектрометрия слабых источников света, <пер. с англ., М., 1979; Никитин В. А., Теоретические основы методологиипрецизионной спектрофотометрии. Л., 1991. В. А. Никитин.

Физическая энциклопедия. В 5-ти томах. — М.: Советская энциклопедия. . 1988.


.

Смотреть что такое "СПЕКТРОМЕТРИЯ" в других словарях:

  • спектрометрия — и допустимо спектрометрия …   Словарь трудностей произношения и ударения в современном русском языке

  • СПЕКТРОМЕТРИЯ — СПЕКТРОМЕТРИЯ, спектрометрии, мн. нет, жен. (физ.). Измерение длины световых волн при помощи спектрометра. Толковый словарь Ушакова. Д.Н. Ушаков. 1935 1940 …   Толковый словарь Ушакова

  • СПЕКТРОМЕТРИЯ — в узком смысле измерение длин волн и интенсивности спектральных линий с помощью спектрометров, микрофотометров и др. приборов. Обычно термин С. трактуется шире: как общее наименование изучения вещества спектральными методами. Геологический… …   Геологическая энциклопедия

  • спектрометрия — сущ., кол во синонимов: 1 • спектроскопия (4) Словарь синонимов ASIS. В.Н. Тришин. 2013 …   Словарь синонимов

  • СПЕКТРОМЕТРИЯ — (англ. spectrographic analysis) нахождение спектра сигнала. С. может выполняться либо математически, если колебательный процесс задан в виде функции или графика, либо с помощью специальной аппаратуры для частотного анализа спектрометров или… …   Большая психологическая энциклопедия

  • спектрометрия — spektrometrija statusas T sritis Standartizacija ir metrologija apibrėžtis Spektroskopijos šaka, kurianti elektromagnetinės ir dalelinės spinduliuotės spektrų gavimo ir spektrinių charakteristikų matavimo metodus. atitikmenys: angl. spectrometry… …   Penkiakalbis aiškinamasis metrologijos terminų žodynas

  • спектрометрия — spektrometrija statusas T sritis Standartizacija ir metrologija apibrėžtis Šviesos ir kitokios elektromagnetinės spinduliuotės intensyvumo priklausomybės nuo bangos ilgio matavimas spektrometru. atitikmenys: angl. spectrometry vok. Spektrometrie …   Penkiakalbis aiškinamasis metrologijos terminų žodynas

  • спектрометрия — spektrometrija statusas T sritis fizika atitikmenys: angl. spectrometry vok. Spektrometrie, f rus. спектрометрия, f pranc. spectrométrie, f …   Fizikos terminų žodynas

  • Спектрометрия — (от Спектр и ...метрия (См. …метрия)         научная дисциплина, разрабатывающая теорию и методы измерений спектров. В оптическом диапазоне длин волн С. объединяет разделы прикладной спектроскопии (См. Спектроскопия), метрологии (См. Метрология)… …   Большая советская энциклопедия

  • Спектрометрия — ж. 1. Раздел спектроскопии, разрабатывающий теорию и методы измерения спектров. 2. Измерение длины световых волн при помощи особых оптических приборов. Толковый словарь Ефремовой. Т. Ф. Ефремова. 2000 …   Современный толковый словарь русского языка Ефремовой

Книги

Другие книги по запросу «СПЕКТРОМЕТРИЯ» >>


Поделиться ссылкой на выделенное

Прямая ссылка:
Нажмите правой клавишей мыши и выберите «Копировать ссылку»