ЛОКАЛЬНЫЙ АНАЛИЗ

ЛОКАЛЬНЫЙ АНАЛИЗ
определение хим. состава микрообъемов или тонких слоев твердого тела. Осн. метрологич. характеристика - локальность, т. е. площадь или объем области, в к-рой возможно обнаружение или определение хим. элемента с заданной погрешностью. Размер этой области по глубине наз. продольной локальностью (L||), вдоль пов-сти -поперечной (L^). Анализ с низкими значениями L|| и высокими L^, осуществляемый на разл. глубине, наз. послойным. Объектами Л. а. могут быть: реальная пов-сть (L|| = 1-10 нм); субмикронный слой (L|| = 10-1000 нм); поверхностный слой (L|| = 1-100 мкм); субмикронное включение (L^ = 10-1000 нм); микровключение и микроучасток (L^ =1-100 мкм). Реальную пов-сть анализируют методами оже-спектроскопии, рентгеноэлектронной спектроскопии, спектроскопии рассеяния медленных ионов (см. Ионного рассеяния спектроскопия), масс-спектрометрии вторичных ионов в статич. режиме (см. Ионный микроанализ). Обычно анализ проводят в высоком вакууме (10-7-10-8 Па) с помощью установок, позволяющих одновременно использовать неск. аналит. методов. В тех же установках проводят разрушающий послойный анализ субмикронных и поверхностных слоев, удаляя слои ионным травлением, лазером, искровым разрядом, хим. или электрохим. растворением. Затем определяют элементы в газовой фазе, р-ре или на протравленной пов-сти. Л. а. субмикронных и поверхностных слоев проводят методами рентгеноспектрального анализа (см. Электронно-зондовые методы), катодолюминесцентного микроанализа, спектроскопии рассеяния быстрых ионов (резерфордовского рассеяния), масс-спектрометрии вторичных ионов в динамич. режиме, оже-спектроскопии и др. При послойном анализе субмикронных слоев без разрушения образец бомбардируют заряженными частицами (электронами, ионами). В зависимости от их энергии меняется глубина, на к-рой происходят процессы, приводящие к появлению аналит. сигнала - рентгеновского излучения, резонансных ядерных р-ций, резерфордовского рассеяния и др. Послойный анализ можно также проводить, варьируя угол отбора, т. е. угол, под к-рым к исследуемой пов-сти располагается приемник аналит. сигнала. Для количеств. послойного анализа экспериментально измеряют зависимости аналит. сигнала от угла его отбора, энергии бомбардирующих частиц, массы удаленного слоя и времени травления, на основании к-рых получают зависимость концентрации определяемого элемента от глубины слоя. При этом пользуются расчетными или более точными эмпирич. методами. В первом случае необходима теоретич. модель взаимодействия возбуждающих частиц с исследуемым образцом, во втором случае нужны образцы сравнения, в к-рых определяемый элемент м. б. распределен равномерно или иметь заданное неоднородное распределение (ионнолегированные образцы, гетероструктуры). При анализе многослойных гетероструктур необходимо учитывать влияние гетерог. фона и фазовой интенсивности. Гетерог. фон связан с генерированием аналит. сигнала (напр., вследствие рассеяния электронов, флуоресцентного возбуждения) в соседней с анализируемой фазе. Величина сигнала - ф-ция расстояния от границы между фазами. Hаиб. высокие систематич. погрешности могут возникать, если концентрация определяемого элемента в соседней фазе существенно больше, чем в анализируемой. Фазовая интенсивность обусловлена резким изменением аналит. сигнала в соседних фазах (слоях), к-рое возникает вследствие различия в специфич. эмиссионных характеристиках этих фаз (как, напр., в случае реакц. эмиссии вторичных ионов) и не зависит от содержания определяемого элемента в них. Систематич. погрешности при этом устраняют расчетными или эксперим. приемами. Л. а. субмикронных включений проводят с помощью растрового или просвечивающего электронного микроскопа (см. Электронная микроскопия), оснащенного спектрометрами, регистрирующими рентгеновское излучение, эмиссию оже-электронов, характеристич. потери энергии первичных электронов и т. д. Миним. локальностью (L^ = 1-5 нм) обладают методы спектроскопии характеристич. потерь энергии электронов. Л. а. микровключений и микроучастков осуществляют электронно-зондовыми методами, ионным микроанализом и др. Oтносит. пределы обнаружения элементов в Л. а. сильно зависят от применяемого метода (от 10-6% в масс-спектрометрии вторичных ионов до 10-1% в оже-спектроскопии) и от локальности определений. Однако абс. пределы обнаружений мало зависят от локальности и составляют для мн. методов 10-14-10-16 г, а в методах спектроскопии характеристич. потери энергии электронов достигают 10-20 г. Наряду с элементным Л. а. возможен фазовый, дающий информацию о характере хим. связей в микрообъемах анализируемого в-ва. Для этого используют методы, сочетающие предварит. хим. или электрохим. обработку пов-сти твердых тел с послед. определением элементов методами рентгеноэлектронной спектроскопии, комбинационного рассеяния спектроскопии и др. Напр., субмикронные поверхностные слои окисляют, а затем анализируют методом катодолюминесцентного микроанализа. Аппаратура для Л. а. включает устройство для локального отбора пробы или облучения микрообъема образца (ионная или электронная пушка, лазер и т. п.), спектрометр и систему количеств. обработки аналит. сигнала, как правило содержащую ЭВМ. Л. а. используют при исследовании распределения элементов по глубине и пов-сти образца, идентификации микрофаз, контроля загрязнений пов-сти твердых тел. Лит.: Методы анализа поверхностей, пер. с англ., М., 1979; Гимельфарб Ф. А.. Шварцман С. Л., Современные методы контроля композиционных материалов, М., 1979; Черепин В. Т., Васильев М. А., Методы и приборы для анализа поверхностных материалов. Справочник, К., 1982; Нефедов В. И., Черенин В. Т., Физические методы исследования поверхности твердых тел. М., 1983; Растровая электронная микроскопия и рентгеновский микроанализ, пер. с англ., М., 1984. Ф. А. Гимельфарб.

Химическая энциклопедия. — М.: Советская энциклопедия. . 1988.

Смотреть что такое "ЛОКАЛЬНЫЙ АНАЛИЗ" в других словарях:

  • ЛОКАЛЬНЫЙ АНАЛИЗ — определение химического состава микрообъемов или тонких слоев твердых тел. Проводят методами электронной микроскопии (в сочетании с рентгеновским спектральным анализом), электронографии, масс спектрометрии вторичных ионов и др …   Большой Энциклопедический словарь

  • локальный анализ — vietinė analizė statusas T sritis Standartizacija ir metrologija apibrėžtis Objekto tam tikrų taškų analizė. atitikmenys: angl. local analysis vok. Lokalanalyse, f rus. локальный анализ, m; местный анализ, m pranc. analyse locale, f …   Penkiakalbis aiškinamasis metrologijos terminų žodynas

  • локальный анализ — vietinė analizė statusas T sritis fizika atitikmenys: angl. local analysis vok. Lokalanalyse, f rus. локальный анализ, m; местный анализ, m pranc. analyse locale, f …   Fizikos terminų žodynas

  • локальный анализ — определение химического состава микрообъёмов или тонких слоёв твердых тел. Проводят методами электронной микроскопии (в сочетании с рентгеновским спектральным анализом), электронографии, масс спектрометрии вторичных ионов и др. * * * ЛОКАЛЬНЫЙ… …   Энциклопедический словарь

  • локальный анализ — vietinė analizė statusas T sritis chemija apibrėžtis Objekto atskirų taškų analizė. atitikmenys: angl. local analysis rus. локальный анализ ryšiai: sinonimas – lokalinė analizė …   Chemijos terminų aiškinamasis žodynas

  • ЛОКАЛЬНЫЙ АНАЛИЗ — определение хим. состава микрообъёмов или тонких слоев тв. тел. Проводят методами электронной микроскопии (в сочетании с рентгеновским спектральным анализом), электронографии, масс спектрометрии вторичных ионов и др …   Естествознание. Энциклопедический словарь

  • ЛОКАЛЬНЫЙ УНИФОРМИЗИРУЮЩИЙ ПАРАМЕТР — локальная у н и ф о р м и з и р у ю щ а я, локальный п а р а м е т р, комплексное переменное t, определенное как непрерывная функция точки р римановой поверхности R всюду в нек рой окрестности V(p0) точки реализующая гомеоморфное отображение… …   Математическая энциклопедия

  • РЕНТГЕНОСПЕКТРАЛЬНЫЙ АНАЛИЗ — элементный анализ вещества по его рентгеновскому спектру. Качественный Р. а. выполняют по спектральномуположению линий характеристич. спектра испускания исследуемого образца;его основа Мозли закон. Количественный Р. а. осуществляют по… …   Физическая энциклопедия

  • Спектральный анализ рентгеновский —         элементный анализ вещественного состава материалов по их рентгеновским спектрам (См. Рентгеновские спектры). Качеств. С. а. р. выполняют по спектральному положению характеристических линий в спектре испускания исследуемого образца, его… …   Большая советская энциклопедия

  • СПЕКТРАЛЬНЫЙ АНАЛИЗ РЕНТГЕНОВСКИЙ — элементный анализ в ва по его рентгеновским спектрам. Качеств. С. а. р. выполняют по спектр. положению характеристич. линий в спектре испускания исследуемого образца, его основа Мозли закон; количеств. С. а. р. осуществляют по интенсивностям этих …   Физическая энциклопедия

Книги

Другие книги по запросу «ЛОКАЛЬНЫЙ АНАЛИЗ» >>


Поделиться ссылкой на выделенное

Прямая ссылка:
Нажмите правой клавишей мыши и выберите «Копировать ссылку»