sample wafer
1sample wafer — atrankiojo tikrinimo plokštelė statusas T sritis radioelektronika atitikmenys: angl. sample wafer vok. Testscheibe für Stichprobenprüfung, f rus. пластина для выборочного контроля, f; тестовая пластина для выборочного контроля, f pranc. tranche… …
2Sample return mission — A sample return mission is a spacecraft mission with the goal of returning tangible samples from an location to Earth for analysis. Sample return missions may bring back merely atoms and molecules or a deposit of complex compounds such as dirt… …
3Christmas wafer — (Polish: opłatek, plural opłatki; Lithuanian: kalėdaitis) is a Central European Christian Christmas tradition celebrated in Polish, Slovak and …
4Engineering sample — Die Artikel Prozessor (Hardware), Mikroprozessor und Hauptprozessor überschneiden sich thematisch. Hilf mit, die Artikel besser voneinander abzugrenzen oder zu vereinigen. Beteilige dich dazu an der Diskussion über diese Überschneidungen. Bitte… …
5Testscheibe für Stichprobenprüfung — atrankiojo tikrinimo plokštelė statusas T sritis radioelektronika atitikmenys: angl. sample wafer vok. Testscheibe für Stichprobenprüfung, f rus. пластина для выборочного контроля, f; тестовая пластина для выборочного контроля, f pranc. tranche… …
6atrankiojo tikrinimo plokštelė — statusas T sritis radioelektronika atitikmenys: angl. sample wafer vok. Testscheibe für Stichprobenprüfung, f rus. пластина для выборочного контроля, f; тестовая пластина для выборочного контроля, f pranc. tranche pour inspection sélective, f …
7tranche pour inspection sélective — atrankiojo tikrinimo plokštelė statusas T sritis radioelektronika atitikmenys: angl. sample wafer vok. Testscheibe für Stichprobenprüfung, f rus. пластина для выборочного контроля, f; тестовая пластина для выборочного контроля, f pranc. tranche… …
8пластина для выборочного контроля — atrankiojo tikrinimo plokštelė statusas T sritis radioelektronika atitikmenys: angl. sample wafer vok. Testscheibe für Stichprobenprüfung, f rus. пластина для выборочного контроля, f; тестовая пластина для выборочного контроля, f pranc. tranche… …
9тестовая пластина для выборочного контроля — atrankiojo tikrinimo plokštelė statusas T sritis radioelektronika atitikmenys: angl. sample wafer vok. Testscheibe für Stichprobenprüfung, f rus. пластина для выборочного контроля, f; тестовая пластина для выборочного контроля, f pranc. tranche… …
10Genesis (spacecraft) — The Genesis spacecraft was the first ever attempt to collect a sample of solar wind, and the first sample return mission to return from beyond the orbit of the Moon. It was launched on August 8, 2001, and crash landed on September 8, 2004 after a …
