юстировки
1служащий для юстировки — прил., кол во синонимов: 2 • юстирный (2) • юстировальный (3) Словарь синонимов ASIS. В.Н. Тришин. 2013 …
2точность юстировки — derinimo tikslumas statusas T sritis automatika atitikmenys: angl. alignment accuracy vok. Justierungsgenauigkeit, f rus. точность настройки, f; точность юстировки, f pranc. précision d ajustage, f …
3местный световой контроль (для контроля юстировки соединений) — — [Л.Г.Суменко. Англо русский словарь по информационным технологиям. М.: ГП ЦНИИС, 2003.] Тематики информационные технологии в целом EN local detection …
4Юстировка — (от нем. justieren выверять)  совокупность операций по выравниванию конструкций и конструктивных элементов (поверхностей, столбов, стоек и т. д.) вдоль некоторого направления («осевого»), а также по приведению меры, измерительного… …
5Днепропетровский спутник — (ДС)  многочисленное семейство советских космических аппаратов, создаваемых ОКБ 586 (впоследствии КБ «Южное») в городе Днепропетровске Украинской ССР. Запуски спутников этой серии проводились с полигонов Плесецк и Капустин Яр более 20 ти… …
6Тайфун (космический аппарат) — Тайфун серия калибровочных космических аппаратов, предназначенных для юстировки, калибровки и паспортизации специальных комплексов наземного и космического базирования Министерства обороны СССР. Относятся ко второму поколению котировочных и… …
7Слесарь КИПиА — Эту статью следует викифицировать. Пожалуйста, оформите её согласно правилам оформления статей. Слесарь по КИПиА  это универсальный специалист, выполняющий работы по обслуживанию, ремонту и эксплуатации различного контрольно измери …
8Дефектоскопия — I Дефектоскопия (от лат. defectus недостаток и ...скопия) комплекс методов и средств неразрушающего контроля материалов и изделий с целью обнаружения дефектов. Д. включает: разработку методов и аппаратуру (дефектоскопы и др.); составление …
9Дефектоскопия — I Дефектоскопия (от лат. defectus недостаток и ...скопия) комплекс методов и средств неразрушающего контроля материалов и изделий с целью обнаружения дефектов. Д. включает: разработку методов и аппаратуру (дефектоскопы и др.); составление …
10Электронный микроскоп — прибор для наблюдения и фотографирования многократно (до 106 раз) увеличенного изображения объектов, в котором вместо световых лучей используются пучки электронов, ускоренных до больших энергий (30 100 кэв и более) в условиях глубокого… …
