крист.
81ПРОСТРАНСТВЕННАЯ ДИСПЕРСИЯ — зависимость тензора диэлектрической проницаемости среды eij(w, k) от волнового вектора, обусловленная нелокальностью связи между электрич. индукцией D и напряжённостью электрич, поля E. Нелегальность связи D и E приводит к ряду явлений, наз.… …
82ФЕРРОМАГНЕТИЗМ — магнитоупорядоченное состояние в ва, при к ром все магн. моменты ат. носителей магнетизма в в ве параллельны и оно обладает самопроизвольной намагниченностью. Рис. 1. Ферромагнитная (коллинеарная) атомная структура гранецентрированной кубич.… …
83РЕНТГЕНОВСКИЙ СТРУКТУРНЫЙ АНАЛИЗ — методы исследования структуры в ва по распределению в пр ве и интенсивностям рассеянного на анализируемом объекте рентгеновского излучения. Р. с. а. наряду с нейтронографией и электронографией явл. дифракц. структурным методом; в его основе лежит …
84РЕНТГЕНОВСКИЙ ТЕЛЕСКОП — прибор для исследования временных и спектр. св в источников косм. рентг. излучения, а также для определения координат этих источников и построения их изображения. Существующие Р. т. работают в диапазоне энергий e фотонов рентг. излучения от 0,1… …
85ТЕНЕЙ ЭФФЕКТ — возникновение характерных минимумов интенсивности (теней) в угловом распределении ч ц, вылетающих из узлов крист. решётки. Т. э. наблюдается для положительно заряж. ч ц: протонов, дейтронов, a частиц и более тяжёлых ионов. Тени образуются в… …
86СТЕНО ЗАКОН — (Стенона закон): у всех кристаллов данного вещества при данных температуре и давлении двугранные углы между соответствующими гранями кристаллов (вне зависимости от размеров и формы граней) всегда одинаковы. Установлен дат. учёным Н. Стено (Стенон …
87ЭЛЕКТРОННАЯ МИКРОСКОПИЯ — совокупность методов исследования с помощью электронных микроскопов (МЭ) микроструктур тел (вплоть до атомно молекулярного уровня), их локального состава и локализованных на поверхностях или в микрообъёмах тел электрич. и магн. полей… …
88ЭЛЕКТРОННЫЙ МИКРОСКОП — прибор для наблюдения и фотографирования многократно (до 106 раз) увеличенного изображения объектов, в к ром вместо световых лучей используются пучки эл нов, ускоренных до больших энергий (30 100 кэВ и более) в условиях глубокого вакуума. Физ.… …
89ЭЛЕКТРОНОГРАФИЯ — метод изучения структуры в ва, основанный на исследовании рассеяния образцом ускоренных эл нов. Применяется для изучения ат. структуры кристаллов, аморфных тел и жидкостей, молекул газов и паров. Физ. основа Э. дифракция эл нов (см. ДИФРАКЦИЯ… …
90Nevermind — Эта статья содержит незавершённый перевод с английского языка. Вы можете помочь проекту, переведя её до конца …
