дифракционный микроскоп
1Дифракционный предел — Дифракционный предел  это минимальное значение размера пятна (Пятно рассеяния), которое можно получить, фокусируя электромагнитное излучение. Меньший размер пятна не позволяет получить явление дифракции электромагнитных волн. Дифракционный… …
2РЕНТГЕНОВСКИЙ МИКРОСКОП — микроскоп, предназначенный для исследования микроструктуры объектов в рентгеновском излучении. Предел разрешения Р. м. может превышать разрешение световых микроскопов на 2 3 порядка в соответствии с отношением длин волн l рентг. и видимого… …
3Спектральный анализ — Содержание статьи. I. Свечение тел. Спектр лучеиспускания. Солнечный спектр. Фраунгоферовы линии. Призматический и дифракционный спектры. Цветорассеяние призмы и решетки. II. Спектроскопы. Коленчатый и прямой спектроскоп à vision directe.… …
4Дифракция волн — (лат. diffractus буквально разломанный, переломанный) явление, которое можно рассматривать как отклонение от законов геометрической оптики при распространении волн. Первоначально понятие дифракции относилось только к огибанию волнами… …
5флуоресцентная микроскопия — Термин флуоресцентная микроскопия Термин на английском fluorescence microscopy Синонимы Аббревиатуры Связанные термины биосенсор, клетка, конфокальная микроскопия, флуоресцентная микроскопия полного внутреннего отражения, электронный микроскоп,… …
6ОПТИКА — (греч. optike наука о зрительных восприятиях, от optos видимый, зримый), раздел физики, в к ром изучаются оптическое излучение (свет), процессы его распространения и явления, наблюдаемые при вз ствии света и в ва. Оптич. излучение представляет… …
7ЭЛЕКТРОННАЯ МИКРОСКОПИЯ — ЭЛЕКТРОННАЯ МИКРОСКОПИЯ, совокупность методов исследования с помощью электронных микроскопов микроструктур тел, их локального состава и локализованных на поверхностях или в микрообъемах тел электрических и магнитных полей. На первом этапе… …
8ГАЗОВЫЙ ЛАЗЕР — оптический квант. генератор с газообразной активной средой. Газ, в к ром за счёт энергии внеш. источника (накачки) создаётся состояние с инверсией населённостей двух уровней энергии (верхний и нижний лазерные уровни), помещается в оптический… …
9дислокации — (от ср.–век. лат. dislocatio смещение), дефекты кристаллической решётки, представляющие собой линии, вдоль которых нарушено правильное расположение атомных плоскостей. Дислокацией определяют так называемые структурно чувствительные свойства… …
10отражательная электронная микроскопия — Термин отражательная электронная микроскопия Термин на английском reflection electron microscopy Синонимы Аббревиатуры REM, ОЭМ Связанные термины микроскопия, электронный микроскоп Определение разновидность микроскопии, в которой для формирования …
- 1
- 2