- ВСИ
-
Встречное сканирование (ВС)[1] — способ измерения рельефа поверхности на сканирующем зондовом микроскопе, позволяющий исправлять искажения растра, возникающие в результате дрейфа зонда микроскопа относительно измеряемой поверхности. В ходе ВС получают два скана поверхности — прямой и встречный. Встречный скан начинается в точке, где заканчивается прямой скан. Данная точка называется точкой совмещения (ТС). Перемещение зонда по строке растра и перемещение зонда от строки к строке растра на встречном скане выполняются в направлениях противоположных направлениям перемещений на прямом скане. Полученная пара изображений называется встречно-сканированными изображениями (ВСИ).
Литература
- ↑ R. V. Lapshin, “Automatic drift elimination in probe microscope images based on techniques of counter-scanning and topography feature recognition”, Measurement Science and Technology, volume 18, issue 3, pages 907-927, 2007.
Ссылки
- Drift elimination based on counter-scanned images, Research section at Lapshin's Personal Page on SPM & Nanotechnology
Wikimedia Foundation. 2010.